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Nikolay Cherkashin

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Extended defects in ion-implanted si during nanosecond laser annealing

Fuccio Cristiano , Y. Qiu , Eléna Bedel-Pereira , Karim Huet , Fulvio Mazzamuto
Junction Technology (IWJT), 2014 International Workshop on, May 2014, Shanghai, China. pp.7-12, ⟨10.1109/IWJT.2014.6842019⟩
Communication dans un congrès hal-01721156v1