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	Neutron-Induced Multiple Bit Upsets on Two Commercial SRAMs Under Dynamic-Stress Paolo Rech , Jean-Marc J.-M. Galliere , Patrick Girard , Alessio Griffoni , Jérôme Boch IEEE Transactions on Nuclear Science, 2012, 59 (4), pp.893-899. ⟨10.1109/TNS.2012.2187218⟩ Article dans une revue lirmm-00805031v1