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29

Frédéric Houzé


O. Schneegans   

Journal articles7 documents

  • Brice Gautier, Pascal Chrétien, Khalifa Aguir, Frédéric Houzé, Olivier Schneegans, et al.. Techniques de mesure de grandeurs électriques adaptées aux nano-circuits. Les Techniques de l'Ingenieur, Editions T.I., 2016, Mesures-Analyses / Mesures et tests électroniques pp.R1084 V1. ⟨hal-01432552⟩
  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Sophie Delprat, Karim Bouzehouane, Olivier Schneegans, et al.. Wide range local resistance imaging on fragile materials by conducting probe atomic force microscopy in intermittent contact mode. Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2016, 108, pp.243101. ⟨10.1063/1.4953870⟩. ⟨cea-01331971⟩
  • Ivan Estevez, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. Specific methodology for capacitance imaging by atomic force microscopy: A breakthrough towards an elimination of parasitic effects. Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2014, 104 (8), pp.083108. ⟨10.1063/1.4866607⟩. ⟨hal-01093500⟩
  • Erwan Tranvouez, E. Boer-Duchemin, A.J. Mayne, T. Vanderbruggen, M. Scheele, et al.. Influence of morphology on the conductance of single-crystal diamond surfaces measured by atomic force microscopy. Journal of Applied Physics, American Institute of Physics, 2009, 106 (5), pp. 054301-1 054301-7. ⟨hal-00444497⟩
  • Olivier Schneegans, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, René Meyer. Capacitance measurements on small parallel plate capacitors using nanoscale impedance microscopy. Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2007, 90, pp.043116. ⟨hal-00320357⟩
  • Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, René Meyer, Lionel Boyer. Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe atomic force microscopy in contact mode. Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2005, 86, pp.123103. ⟨hal-00320223⟩
  • Olivier Schneegans, Lionel Boyer, Frédéric Houzé, René Meyer, Pascal Chrétien. “ Copper sample analyzed with an n-doped silicon tip using conducting probe atomic force microscopy. Journal of Vacuum Science and Technology B, 2002, 20, pp.1929. ⟨hal-00098202⟩

Conference papers16 documents

  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Karim Bouzehouane, Olivier Schneegans, Pierre Seneor, et al.. Local resistance imaging on soft materials by conducting probe atomic force microscopy in intermittent contact mode. NanoMetrology 2016, Jun 2016, Paris, France. pp.126. ⟨hal-01320255⟩
  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Karim Bouzehouane, Olivier Schneegans, Pierre Seneor, et al.. Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent. 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. ⟨hal-01317747⟩
  • Aymeric Vecchiola, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans. Avancées récentes sur les mesures de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en contact intermittent. 17e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2014, Montauban, France. pp.114 - 115. ⟨hal-01093608⟩
  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. Imagerie de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en mode contact intermittent. NANORGASOL 2013, Nov 2013, Mèze, France. pp.14. ⟨hal-00927019⟩
  • Aymeric Vecchiola, Olivier Schneegans, Pascal Chrétien, Frédéric Houzé. Développement d'une imagerie de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en mode contact intermittent. Forum 2013 des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2013, Spa, Belgique. pp.124-125. ⟨hal-00927018⟩
  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé, Karim Bouzehouane, et al.. Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent. Journées Nationales en Nanosciences et Nanotechnologies J3N 2013, Nov 2013, Marseille, France. ⟨hal-00927020⟩
  • Pascal Chrétien, Aymeric Vecchiola, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé, Karim Bouzehouane, et al.. Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent. Journées Nationales en Nanosciences et Nanotechnologies- J3N2012, Nov 2012, Bordeaux, France. ⟨hal-00778776⟩
  • Ivan Estevez, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. Optimisation de la mesure de capacité électrique locale absolue par AFM à sonde conductrice. 14e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2011, Ecully, France. pp.87. ⟨hal-00710620⟩
  • Ivan Estevez, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. Mesures de capacité absolue par AFM à pointe conductrice. Forum 2009 des microscopies à sonde locale, Mar 2009, Hardelot, France. pp. 56-57. ⟨hal-00445402⟩
  • Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. Avancées successives sur la mesure de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice. Forum 2009 des microscopies à sonde locale, Mar 2009, Hardelot, France. pp. 94-95. ⟨hal-00445404⟩
  • Ivan Estevez, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. Mesures de capacité absolue par AFM à pointe conductrice: problématique et avancées récentes. Journées du GDR Micro Nano Systèmes, Dec 2008, Montpellier, France. ⟨hal-00353331⟩
  • Pascal Chrétien, Ivan Estevez, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. The Resiscope module for DC conductivity measurements by AFM : an overview of performances and some various applications. International SPM Usermeeting, May 2008, Barcelone, Spain. pp.CD-ROM Proceedings. ⟨hal-00351356⟩
  • Olivier Schneegans, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien. Mesures de capacités plan/plan dans la gamme 1pF-1fF : mise en évidence des effets de bord, proposition d'un modèle et confrontation à des simulations numériques. Réunion Annuelle VEECO des Utilisateurs d'AFM, 2006, France. ⟨hal-00320315⟩
  • Frédéric Houzé, D. Mariolle, F. Bertin, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans. Caractérisation de profils de dopage par imagerie de résistance locale à faible force. 8ème Forum des Microscopies à Sonde Locale, 2005, France. ⟨hal-00320231⟩
  • Pascal Chrétien, Frédéric Houzé, Olivier Schneegans, René Meyer, Lionel Boyer. Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe AFM in contact mode. Xtip'05, 2005, France. ⟨hal-00320256⟩
  • Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé, René Meyer, Lionel Boyer. Simultaneous height, resistance and capacitance cartography of a SRAM test sample by conducting probe AFM. Seing at the Nanoscale II, 2004, France. ⟨hal-00320180⟩

Poster communications2 documents

  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Noelle Gogneau, Karim Bouzehouane, Olivier Schneegans, et al.. Formation de matière sur des surfaces imagées par AFM en mode intermittent : un artefact inattendu. 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. Actes du 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale. ⟨hal-01317764⟩
  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé, Karim Bouzehouane, et al.. Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent. Journées Nationales Nanosciences et Nanotechnologies (J3N 2014), Nov 2014, Lyon, France. ⟨hal-01338861⟩

Patents2 documents

  • Olivier Schneegans, Pascal Chrétien, Frédéric Houzé. Appareil de mesure de la résistance électrique locale d'une surface. N° de brevet: PCT/IB2011/051951. 2011. ⟨hal-00715270⟩
  • Olivier Schneegans, Pascal Chrétien, Frédéric Houzé. Appareil de mesure de la résistance électrique locale d'une surface. France, N° de brevet: FR 10 01940. 2010. ⟨hal-00557019⟩

Other publications2 documents

  • Pascal Chrétien, Frédéric Houzé, Olivier Schneegans. Transfert de savoir-faire pour la mise en forme, la fabrication et la mise sur le marché du Résiscope. 2007. ⟨hal-00320405⟩
  • Pascal Chrétien, Frédéric Houzé, Olivier Schneegans, René Meyer, Lionel Boyer. Améliorations apportées au dispositif de mesure rapide de courant et de résistance électrique pouvant varier sur plusieurs décades. 2006. ⟨hal-00320345⟩