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Etienne Talbot

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0000-0001-6389-1670
IdRef : 124080154

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philippe-pareige

"remi-demoulin"

	Atomic-scale and optical investigation of nanostructured Er disilicates in silica S. Guehairia , Rémi Demoulin , H. Merabet , Philippe Pareige , Julien Cardin Journal of Alloys and Compounds, 2022, 926, pp.166947. ⟨10.1016/j.jallcom.2022.166947⟩ Article dans une revue hal-03762893v1
	Influence of phosphorus on the growth and the photoluminescence properties of Si-NCs formed in P-doped SiO/SiO 2 multilayers Fatme Trad , Alaa E Giba , Xavier Devaux , Mathieu Stoffel , Denis Zhigunov Nanoscale, 2021, ⟨10.1039/D1NR04765E⟩ Article dans une revue hal-03457250v1
	Correlation of luminescence measurements to the structural characterization of Pr3+-doped HfSiOx Rémi Demoulin , L. Khomenkova , C. Labbe , F. Gourbilleau , Celia Castro Journal of Luminescence, 2021, 235, pp.118004. ⟨10.1016/j.jlumin.2021.118004⟩ Article dans une revue hal-03164169v1
	Correlated Structural and Luminescence Analysis of B‐Doped Si‐Nanocrystals Embedded in Silica Rémi Demoulin , Dominique Muller , Daniel Mathiot , Philippe Pareige , Etienne Talbot physica status solidi (RRL) - Rapid Research Letters, 2020, 14 (6), pp.2000107. ⟨10.1002/pssr.202000107⟩ Article dans une revue hal-03329836v1
	Atomic-Scale Characterization of N-Doped Si Nanocrystals Embedded in SiO2 by Atom Probe Tomography Rémi Demoulin , Manuel Roussel , Sébastien Duguay , Dominique Muller , Daniel Mathiot Journal of Physical Chemistry C, 2019, 123 (12), pp.7381-7389. ⟨10.1021/acs.jpcc.8b08620⟩ Article dans une revue hal-02082140v1
	Origin of Pr 3+ luminescence in hafnium silicate films: combined atom probe tomography and TEM investigations Rémi Demoulin , Georges Beainy , Celia Castro , Philippe Pareige , Larysa Khomenkova Nano Futures, 2018, 2 (3), pp.2. ⟨10.1088/2399-1984/aad009⟩ Article dans une revue hal-01845624v1

	Characterization of p-type Doping in Silicon Nanocrystals Embedded in SiO 2 Rémi Demoulin , Manuel Roussel , Sébastien Duguay , D. Muller , D. Mathiot Microscopy & Microanalysis 2019, Aug 2019, Portland, United States. pp.2540-2541, ⟨10.1017/S1431927619013436⟩ Communication dans un congrès hal-02294165v1
	Métrologie du dopage de nanocristaux de silicium par sonde atomique tomographique Etienne Talbot , Rémi Demoulin , Philippe Pareige , Dominique Muller , Daniel Mathiot Réunion plénière du GDR NACRE, Nov 2018, Paris, France Communication dans un congrès hal-02120693v1