Arnaud Virazel
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Affiliations actuelles
- 1100642
Identifiants chercheurs
- arnaud-virazel
- IdRef : 068454724
- ISNI : 0000000139422532
- 0000-0001-7398-7107
Présentation
Enseignant-chercheur au **LIRMM** dans l’équipe de recherche **TEST**: Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems.
<https://www.lirmm.fr/recherche/equipes/test>
**Cours** :
<http://www.lirmm.fr/~virazel/COURS/index.php?dir=L1%20-%20HLEE202/Cours/>
**Researchgate** :
[https://www.researchgate.net/profile/Arnaud\_Virazel](https://www.researchgate.net/profile/Arnaud_Virazel)
Publications
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SoC Yield Improvement - Using TMR Architectures for Manufacturing Defect Tolerance in Logic CoresInternational Journal On Advances in Systems and Measurements, 2010, 3 (1/2), pp.1-10
Article dans une revue
lirmm-00553567v1
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Is TMR Suitable for Yield Improvement ?IET Computers & Digital Techniques, 2009, 3 (6), pp.581-592. ⟨10.1049/iet-cdt.2008.0127⟩
Article dans une revue
lirmm-00406961v1
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Using TMR Architectures for SoC Yield ImprovementVALID'09: The First International Conference on Advances in System Testing and Validation Lifecycle, 2009, Porto, Portugal. pp.155-160
Communication dans un congrès
lirmm-00406967v1
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Yield Improvement, Fault-Tolerance to the Rescue?IOLTS: International On-Line Testing Symposium, Jul 2008, Rhodes, Greece. pp.165-170, ⟨10.1109/IOLTS.2008.10⟩
Communication dans un congrès
lirmm-00303400v1
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Améliorer le rendement grâce aux structures tolérantes aux fautesJournées des Doctorants de l'Ecole Doctorale I2S, France
Communication dans un congrès
lirmm-00341806v1
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Using TMR Architectures for Yield ImprovementDFT'08: 23rd IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, Oct 2008, pp.007-015
Communication dans un congrès
lirmm-00326901v1
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Tolérer Plus pour Fabriquer PlusColloque GDR SoC-SiP, France
Communication dans un congrès
lirmm-00341812v1
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Utilisation de structures tolérantes aux fautes pour augmenter le rendementJNRDM 2008 - 11e Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2008, Bordeaux, France
Communication dans un congrès
lirmm-00341811v1
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SoC Yield Improvement for Future Nanoscale TechnologiesETS 2009 - 14th IEEE European Test Symposium | PhD Forum, May 2009, Sevilla, Spain. 2009
Poster de conférence
lirmm-00433798v1
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SoC Yield Improvement: Redundant Architectures to the RescueITC'2008: International Test Conference, Oct 2008, Santa Clara, CA, United States. IEEE, pp.7, 2008
Poster de conférence
lirmm-00341799v1
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