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Arnaud Virazel

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Enseignant-chercheur au **LIRMM** dans l’équipe de recherche **TEST**: Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems. <https://www.lirmm.fr/recherche/equipes/test> **Cours** : <http://www.lirmm.fr/~virazel/COURS/index.php?dir=L1%20-%20HLEE202/Cours/> **Researchgate** : [https://www.researchgate.net/profile/Arnaud\_Virazel](https://www.researchgate.net/profile/Arnaud_Virazel)

Publications

845059

A SPICE-Like 2T-FLOTOX Core-Cell Model for Defect Injection and Faulty Behavior Prediction in eFlash

 Olivier Ginez , Jean-Michel Daga , Patrick Girard , Christian Landrault , Serge Pravossoudovitch
Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2009, N/A, pp.127-144. ⟨10.1007/s10836-008-5096-9⟩
Article dans une revue lirmm-00371370v1

Retention and Reliability Problems in Embedded Flash Memories: Analysis and Test of Defective 2T-FLOTOX Tunnel Window

 Olivier Ginez , Jean-Michel Daga , Patrick Girard , Christian Landrault , Serge Pravossoudovitch
VTS'07: 25th IEEE VLSI Test Symposium, May 2007, Berkeley, CA (USA), pp.47-52
Communication dans un congrès lirmm-00151034v1

Electrical Simulation Model of the 2T-FLOTOX Core-Cell for Defect Injection and Faulty Behavior Prediction in eFlash Memories

 Olivier Ginez , Jean-Michel Daga , Patrick Girard , Christian Landrault , Serge Pravossoudovitch
ETS: European Test Symposium, May 2007, Freiburg, Germany. pp.77-82, ⟨10.1109/ETS.2007.20⟩
Communication dans un congrès lirmm-00158543v1
Image document

A Concurrent Approach for Testing Address Decoder Faults in eFlash Memories

 Olivier Ginez , Patrick Girard , Christian Landrault , Serge Pravossoudovitch , Arnaud Virazel
ITC'07: International Test Conference, paper 3.2
Communication dans un congrès lirmm-00194260v1

Test des Mémoires Flash Embarquées : Analyse de la perturbation entre cellules FloTOx voisines durant une phase de programmation

 Olivier Ginez , Patrick Girard , Christian Landrault , Serge Pravossoudovitch , Arnaud Virazel
Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, France
Communication dans un congrès lirmm-00194274v1

Embedded Flash Testing

 Olivier Ginez , Patrick Girard , Christian Landrault , Serge Pravossoudovitch , Arnaud Virazel
Colloque du GDR SoC-SiP, Jun 2007, Paris, France
Communication dans un congrès lirmm-00194277v1

An Overview of Failure Mechanisms in Embedded Flash Memories

 Olivier Ginez , Jean-Michel Daga , Marylène Combe , Patrick Girard , Christian Landrault
VTS'06: VLSI Test Symposium, Apr 2006, Berkeley, CA, United States. pp.108-113
Communication dans un congrès lirmm-00102761v1
Image document

Embedded Flash Testing: Overview and Perspectives

 Olivier Ginez , Jean-Michel Daga , Patrick Girard , Christian Landrault , Serge Pravossoudovitch
DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, Sep 2006, Tunis, Tunisia. pp.210-215
Communication dans un congrès lirmm-00093665v1