Yves Quéré, Thierry Le Gouguec, Noël Tanguy, Pierre-Marie Martin, Denis Le Berre, et al.. Influence des éléments RLC dépendant de la fréquence sur le comportement dans le domaine temporal des interconnexions dans un environnement complexe en technologie CMOS avancée.
13e Colloque International de Compatibilité Electromagnétique, CEM 2006., Apr 2006, Saint-Malo, France. pp.350-351.
⟨hal-00488138⟩