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Thierry Douillard

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thierry-douillard
ResearcherId : G-9808-2014
0000-0001-7113-889X
Google Scholar : https://scholar.google.fr/citations?user=RtUCsnsAAAAJ&hl=fr
ResearcherId : http://www.researcherid.com/rid/G-9808-2014

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thierryepicier

	Highly ductile amorphous oxide at room temperature and high strain rate Erkka Frankberg , Janne Kalikka , Francisco García Ferré , Lucile Joly-Pottuz , Turkka Salminen Science, 2019, 366 (6467), pp.864-869. ⟨10.1126/science.aav1254⟩ Article dans une revue hal-02371750v1
	Crystal orientation mapping via ion channeling: An alternative to EBSD Cyril Langlois , Thierry Douillard , Hui Yuan , Nicholas P. Blanchard , Armel Descamps-Mandine Ultramicroscopy, 2015, 157, pp.65-72. ⟨10.1016/j.ultramic.2015.05.023⟩ Article dans une revue hal-01226846v1

	Caractérisation par MET de la région proche de la surface de l’absorbeur dans les cellules solaires à base de Cu(In,Ga)Se2 Eric Gautron , Thomas Lepetit , Nicolas Barreau , Thierry Douillard , Thierry Epicier 2ème journée des utilisateurs du réseau national METSA, Dec 2016, Paris, France Communication dans un congrès hal-02138296v1
	Cartographies d’orientations cristallines obtenues par série d’image ionique: technique iCHORD Cyril Langlois , Hui Yuan , Thierry Douillard , Bertrand van de Moortèle , Armel Descamps-Mandine 14ème colloque SFµ, Jun 2015, Nice, France Communication dans un congrès hal-02066175v1
	Crystal orientation mapping via ion channeling: an alternative to EBSD Cyril Langlois , Thierry Douillard , Hui Yuan , Nicholas P. Blanchard , Armel Descamps-Mandine Microscience Microscopy Congress 2015, Jun 2015, Manchester, United Kingdom Communication dans un congrès hal-02066168v1
	Crystal Orientation Mapping using ion image series: iCHORD Cyril Langlois , Thierry Douillard , Hui Yuan , Nicholas P. Blanchard , Armel Descamps-Mandine EUROMAT, Sep 2015, Warsaw, Poland Communication dans un congrès hal-02066188v1
	Towards the understanding of an industrial process to produce photovoltaic cells : benefits of a multi-techniques approach in a FIB (nano-machining, SEM imaging, 3D tomographic slicing, EDX and EBSD mapping, and TEM slabs preparation) Nicholas P. Blanchard , Armel Descamps-Mandine , Thierry Douillard , Thierry Epicier , Jean-Claude Ménard 12ème colloque de la Société Française des Microscopies, Jun 2011, Strasbourg, France Communication dans un congrès hal-02066425v1
	Characterization of Carbon/Silicon Ribbon for Photovoltaic Application: Study of Materials and Interfaces Mathieu Monville , Sylvie Bonnamy , Marco Schowalter , Thierry Douillard , Thierry Epicier Annual World Conference on Carbon 2009, Jun 2009, Biarritz, France Communication dans un congrès hal-02190864v1

	Heterointerfaces TEM characterization of buffer layers in KF treated CIGS solar cells. Towards a new buffer layer? Eric Gautron , Thomas Lepetit , Sylvie Harel , Ludovic Arzel , Lionel Assmann European Microscopy Congress, Aug 2016, Lyon, France. Wiley-VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, 2016, ⟨10.1002/9783527808465.emc2016.6618⟩ Poster de conférence hal-02138680v1
	Crystallographic study of a Si-graphite interface by means of electron microscopy and EBSD Thierry Epicier , Thierry Douillard , Hui Yuan EBSD 2010, May 2010, Saint-Etienne, France Poster de conférence hal-02138707v1