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ST
Sylvain Tricot
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Identifiants chercheurs
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- 0000-0002-8863-2162
- IdRef : 132073986
Présentation
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Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM) as a local probe of local energy band alignments of Co/organic monolayer/GaAs(001)34ème édition des Journées Surfaces et Interfaces, Jan 2020, Paris, France
Poster de conférence
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Imaging and probing local energy band alignments of organic/inorganic interfaces by Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM)33ème édition des Journées Surfaces et Interfaces, Jan 2019, Nancy, France
Poster de conférence
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