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ST
Sylvain Tricot
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Identifiants chercheurs
- sylvain-tricot
- 0000-0002-8863-2162
- IdRef : 132073986
Présentation
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Effective Metal Top Contact on the Organic Layer via Buffer-Layer-Assisted Growth: A Multiscale Characterization of Au/Hexadecanethiol/n-GaAs(100) JunctionsJournal of Physical Chemistry C, 2016, 120 (42), pp.24056--24062. ⟨10.1021/acs.jpcc.6b05729⟩
Article dans une revue
hal-01416360v1
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Microscopie à émission d’électrons balistiques : le transport d’électrons chauds comme sonde des propriétés électroniques locales aux interfacesJournées du STM, Jun 2019, Palaiseau, France
Communication dans un congrès
hal-02402462v1
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Microscopie à Emission d'Electrons Balistiques (BEEM): sonde locale des propriétés électroniques d'interfaces enterrées13èmes journées de la matière condensée, JMC13, Aug 2012, Montpellier, France
Communication dans un congrès
hal-00934019v1
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Ballistic Electron Emission Microscopy (BEEM): Local probe of electronic properties at buried interfacesInternational Conference on Nanoscience and Technology (ICN+T 2012), Jul 2012, Paris, France
Communication dans un congrès
hal-00935580v1
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