Igor Jovančević, Huy-Hieu Pham, Jean-José Orteu, Rémi Gilblas, Jacques Harvent, et al.. Détection et caractérisation de défauts de surface par analyse des nuages de points 3D fournis par un scanner.
Instrumentation, Mesure, Métrologie, Lavoisier, 2017, 16 (1-4), p.261-282.
⟨hal-01660998⟩