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Patrick Girard

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Test Solution for Data Retention Faults in Low-Power SRAMs

Leonardo B. Zordan , Alberto Bosio , Luigi Dilillo , Patrick Girard , Aida Todri-Sanial
DATE 2013 - 16th Design, Automation and Test in Europe Conference, Mar 2013, Grenoble, France. pp.442-447, ⟨10.7873/DATE.2013.099⟩
Communication dans un congrès lirmm-00805140v1