Patrick Girard

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969654

	An Efficient Scan Tree Design for Test Time Reduction Yannick Bonhomme , Tomohiro Yoneda , Hideo Fujiwara , Patrick Girard ETS: European Test Symposium, May 2004, Ajaccio, Corsica, France. pp.174-179, ⟨10.1109/ETSYM.2004.1347657⟩ Communication dans un congrès lirmm-00108901v1