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Patrick Girard

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Predictor BIST: An "All-in-One" Optical Test Solution for CMOS Image Sensors

Julia Lefèvre , Philippe Debaud , Patrick Girard , Arnaud Virazel
ITC 2023 - IEEE International Test Conference, Oct 2023, Anaheim, United States
Communication dans un congrès lirmm-04240449v1

Configuring a Universal BIST Solution for CMOS Image Sensors

Julia Lefèvre , Philippe Debaud , Patrick Girard , Arnaud Virazel
16e Colloque National du GDR SoC², Jun 2022, Strasbourg, France
Communication dans un congrès lirmm-03988569v1
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A Generic Fast and Low Cost BIST Solution for CMOS Image Sensors

Julia Lefèvre , Philippe Debaud , Patrick Girard , Arnaud Virazel
ETS 2022 - 27th IEEE European Test Symposium, May 2022, Barcelona, Spain. pp.1-2, ⟨10.1109/ETS54262.2022.9810458⟩
Communication dans un congrès lirmm-03770756v1
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A Novel BIST Engine for CMOS Image Sensors

Julia Lefèvre , Philippe Debaud , Patrick Girard , Arnaud Virazel
15e Colloque National du GDR SoC², Jun 2021, Rennes, France
Communication dans un congrès lirmm-03987828v1
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A Fast and Low Cost Embedded Test Solution for CMOS Image Sensors

Julia Lefèvre , Philippe Debaud , Patrick Girard , Arnaud Virazel
ITC 2021 - IEEE International Test Conference, Oct 2021, Online, United States. pp.1-9, ⟨10.1109/ITC50571.2021.00007⟩
Communication dans un congrès lirmm-03377562v1