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Patrick Girard
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Development and Application of Embedded Test Instruments to Digital, Analog/RFs and Secure ICsIOLTS 2020 - 26th IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design, Jul 2020, Napoli, Italy. pp.1-4, ⟨10.1109/IOLTS50870.2020.9159723⟩
Communication dans un congrès
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Test de Circuits et de Systèmes IntégrésCollection EGEM, Ed.Hermès, 2004, 2-7462-0864-4
Ouvrages
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