Nombre de documents

60


Article dans une revue13 documents

  • Nicolas Jamond, Pascal Chrétien, Frédéric Houzé, L. Lu, L Largeau, et al.. Piezo-generator integrating a vertical array of GaN nanowires. Nanotechnology, Institute of Physics: Hybrid Open Access, 2016, 27 (32), pp.325403. <10.1088/0957-4484/27/32/325403>. <hal-01338052>
  • N Gogneau, N Jamond, Pascal Chrétien, F Houzé, E Lefeuvre, et al.. From single III-nitride nanowires to piezoelectric generators: New route for powering nomad electronics. Semiconductor Science and Technology, IOP Publishing, 2016, 31 (10), <10.1088/0268-1242/31/10/103002>. <hal-01374144>
  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Sophie Delprat, Karim Bouzehouane, Olivier Schneegans, et al.. Wide range local resistance imaging on fragile materials by conducting probe atomic force microscopy in intermittent contact mode. Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2016, 108, pp.243101. <http://scitation.aip.org/content/aip/journal/apl/108/24/10.1063/1.4953870>. <10.1063/1.4953870>. <cea-01331971>
  • Paul Narchi, José Alvarez, Pascal Chrétien, Gennaro Picardi, Romain Cariou, et al.. Cross-Sectional Investigations on Epitaxial Silicon Solar Cells by Kelvin and Conducting Probe Atomic Force Microscopy: Effect of Illumination. Nanoscale Research Letters, SpringerOpen, 2016, 11 (1), pp.55. <10.1186/s11671-016-1268-1>. <hal-01266681>
  • Noelle Gogneau, Pascal Chrétien, Elisabeth Galopin, Stephane Guilet, Laurent Travers, et al.. Impact of the GaN nanowire polarity on energy harvesting. Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2014, 104 (21), pp.213105. <10.1063/1.4880101>. <hal-01096617>
  • Noelle Gogneau, Pascal Chrétien, Elisabeth Galopin, Stephane Guilet, Laurent Travers, et al.. GaN nanowires for piezoelectric generators. physica status solidi (RRL) - Rapid Research Letters, Wiley-VCH Verlag, 2014, 8 (5), pp.414-419. <10.1002/pssr.201409105>. <hal-01093504>
  • Ivan Estevez, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. Specific methodology for capacitance imaging by atomic force microscopy: A breakthrough towards an elimination of parasitic effects. Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2014, 104 (8), pp.083108. <10.1063/1.4866607>. <hal-01093500>
  • Alec Moradpour, Olivier Schneegans, Sylvain Franger, Alexandre Revcolevschi, Raphaël Salot, et al.. Resistive Switching Phenomena in LixCoO2 Thin Fillms. Advanced Materials, Wiley-VCH Verlag, 2011, 23 (36), pp.4141-4145. <10.1002/adma.201101800>. <hal-00710602>
  • Erwan Tranvouez, E. Boer-Duchemin, A.J. Mayne, T. Vanderbruggen, M. Scheele, et al.. Influence of morphology on the conductance of single-crystal diamond surfaces measured by atomic force microscopy. Journal of Applied Physics, American Institute of Physics, 2009, 106 (5), pp. 054301-1 054301-7. <hal-00444497>
  • Olivier Schneegans, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, René Meyer. Capacitance measurements on small parallel plate capacitors using nanoscale impedance microscopy. Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2007, 90, pp.043116. <hal-00320357>
  • Olivier Schneegans, A. Moradpour, O. Dragos, S. Franger, N. Dragoe, et al.. NaxCoO2 : a new opportunity for rewritable media ?. Journal of the American Chemical Society, American Chemical Society, 2007, 129, pp.7482-7483. <hal-00320352>
  • Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, René Meyer, Lionel Boyer. Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe atomic force microscopy in contact mode. Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2005, 86, pp.123103. <hal-00320223>
  • Olivier Schneegans, Lionel Boyer, Frédéric Houzé, René Meyer, Pascal Chrétien. “ Copper sample analyzed with an n-doped silicon tip using conducting probe atomic force microscopy. Journal of Vacuum Science and Technology B, 2002, 20, pp.1929. <hal-00098202>

Communication dans un congrès36 documents

  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Karim Bouzehouane, Olivier Schneegans, Pierre Seneor, et al.. Local resistance imaging on soft materials by conducting probe atomic force microscopy in intermittent contact mode. NanoMetrology 2016, Jun 2016, Paris, France. pp.126, NANOTECH FRANCE 2016 - International Nanotechnology Conference. <hal-01320255>
  • Noelle Gogneau, Nicolas Jamond, Pascal Chrétien, Frédéric Houzé, Elisabeth Galopin, et al.. GaN nanowires for piezoelectric energy harvesting : Towards wireless sensors. Energy Materials Nanotechnology (EMN) Spring Meeting 2016, Mar 2016, Taipei, Taiwan. <hal-01315747>
  • Kevin Dalla-Francesca, Sophie Noël, David Brunel, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, et al.. Soft ultrasonic exfoliation of multilayer graphene for an application to electrical contacts. 28th International Conference on Electric Contacts (ICEC2016), Jun 2016, Edinburgh, United Kingdom. pp.225-230, Proceedings of the 28th International Conference on Electric Contacts (ICEC2016). <hal-01332540>
  • Pascal Chrétien, Sophie Noël, Alexandre Jaffré, Frédéric Houzé, David Brunel, et al.. Electrical and structural mapping of friction induced defects in graphene layers. 62nd IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Oct 2016, Clearwater Beach, United States. Proceedings of the 62nd IEEE Holm Conference on Electrical Contacts. <hal-01332589>
  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Karim Bouzehouane, Olivier Schneegans, Pierre Seneor, et al.. Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent. 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. Actes du 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale. <hal-01317747>
  • Joanna Njeim, Ali Madouri, Antonella Cavanna, Pascal Chrétien, Alexandre Jaffré, et al.. Graphene growth and transfer towards flexible substrates for microwave applications. Conference Nanotech France 2016, Jun 2016, Paris, France. 2nd Edition of Nanotech France 2016 International Conference and Exhibition. <hal-01402920>
  • Van Son Nguyen, Van Huy Mai, Alec Moradpour, Pascale Auban-Senzier, Claude Pasquier, et al.. Lithium cobalt oxide thin films towards resistive memories. International Conference on Nanotechnology - Nanotech France 2015, Jun 2015, Paris, France. <hal-01240031>
  • Nicolas Jamond, Laurent Travers, Franck Glas, Noelle Gogneau, Pascal Chrétien, et al.. GaN nanowires based piezogenerator - Investigation of the GaN nanowires potentiality for the development of piezogenerators . Cinquièmes Journées Nationales sur la Récupération et le Stockage d'Energie , May 2015, Orsay, France. pp.21-22, JNRSE'2015. <hal-01258276>
  • Alec Moradpour, Olivier Schneegans, Pascale Auban-Senzier, Claude Pasquier, Kang Wang, et al.. Modifications des propriétés électriques de films minces de LixCoO2 par AFM à pointe conductrice. 17e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2014, Montauban, France. Actes du 17e Forum des Microscopies à Sonde Locale, pp.140 - 141. <hal-01093622>
  • N. Jamond, Pascal Chrétien, E. Galopin, L. Travers, J.C. Harmand, et al.. Piezoelectric Potential of GaN Nanowires: Towards Efficient Output Piezo-generators. Atelier Nucléation Croissance et Surfaces Hétérogènes du GDR PULSE (Processus ULtimes en épitaxie de SEmiconducteurs), Apr 2014, Valbonne, France. Actes de l'Atelier Nucléation Croissance et Surfaces Hétérogènes du GDR PULSE. <hal-01099228>
  • Van Huy Mai, Alec Moradpour, Pascale Auban-Senzier, C. R. Pasquier, Kang Wang, et al.. Resistive Switching Phenomena in LixCoO2 Thin Films. IWAMSN 2014, Nov 2014, Ha Long City, Vietnam. Proceedings of the 7th International Workshop on Advanced Materials Science and Nanotechnology. <hal-01099303>
  • Kevin Dalla-Francesca, Sophie Noël, Aymeric Vecchiola, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, et al.. Electrical characterization of graphene-like films at microscopic and macroscopic scale. IEEE Holm 2014, Oct 2014, New Orleans, United States. Proceedings of 60th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, pp.116-123. <hal-01099230>
  • Aymeric Vecchiola, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans. Avancées récentes sur les mesures de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en contact intermittent. 17e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2014, Montauban, France. Actes du 17e Forum des Microscopies à Sonde Locale, pp.114 - 115. <hal-01093608>
  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. Imagerie de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en mode contact intermittent. NANORGASOL 2013, Nov 2013, Mèze, France. pp.14, 2013. <hal-00927019>
  • Van Huy Mai, Alec Moradpour, Olivier Schneegans, Pascale Auban-Senzier, Claude Pasquier, et al.. Resistive Switching Phenomena in LixCoO2 Thin Films. Oxydes fonctionnels pour l'intégration en Micro- et Nano-électronique, Apr 2013, Autrans, France. 2013. <hal-00927021>
  • Aymeric Vecchiola, Olivier Schneegans, Pascal Chrétien, Frédéric Houzé. Développement d'une imagerie de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en mode contact intermittent. Forum 2013 des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2013, Spa, Belgique. pp.124-125, 2013. <hal-00927018>
  • Van Huy Mai, Alec Moradpour, Olivier Schneegans, Pascale Auban-Senzier, Claude Pasquier, et al.. Commutation résistive de films minces de LixCoO2: Spécificité du comportement de l'AFM à pointe conductrice. Forum 2013 des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2013, Spa, Belgique. pp.106, 2013. <hal-00927022>
  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé, Karim Bouzehouane, et al.. Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent. Journées Nationales en Nanosciences et Nanotechnologies J3N 2013, Nov 2013, Marseille, France. <hal-00927020>
  • Alec Moradpour, Pascale Auban-Senzier, Claude Pasquier, Kang Wang, Olivier Schneegans, et al.. Resistive switching phenomena in LixCoO2 thin films. MemCo 2012, Nov 2012, Fréjus, France. pp.00, 2012. <hal-00778777>
  • Olivier Schneegans, Van Huy Mai, Alec Moradpour, Pascale Auban-Senzier, Claude Pasquier, et al.. Resistive Switching Phenomena in LixCoO2 Thin Films. IWAMSN2012, Oct 2012, Ha Long City, Vietnam. pp.125, 2012. <hal-00778775>
  • Olivier Schneegans, Van Huy Mai, Alec Moradpour, Pascale Auban-Senzier, Claude Pasquier, et al.. Resistive Switching Phenomena in LixCoO2 Thin Films. Frontiers in Electronic Materials: Correlation Effects and Memristive Phenomena, Jun 2012, Aachen, Germany. pp.231, 2012. <hal-00778774>
  • Pascal Chrétien, Aymeric Vecchiola, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé, Karim Bouzehouane, et al.. Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent. Journées Nationales en Nanosciences et Nanotechnologies- J3N2012, Nov 2012, Bordeaux, France. <hal-00778776>
  • Ivan Estevez, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. Optimisation de la mesure de capacité électrique locale absolue par AFM à sonde conductrice. 14e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2011, Ecully, France. pp.87, 2011. <hal-00710620>
  • Ivan Estevez, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. Mesures de capacité absolue par AFM à pointe conductrice. Forum 2009 des microscopies à sonde locale, Mar 2009, Hardelot, France. pp. 56-57, 2009. <hal-00445402>
  • Cristian Ciomaga, Oana Dragos, Olivier Schneegans, Alec Moradpour, Sylvain Franger, et al.. Nanomodifications réversibles obtenues par AFM à pointe conductrice. Journées d'Electrochimie (JE09), Jul 2009, Sinaia, Roumanie. 2009. <hal-00445403>
  • Cristian Ciomaga, Oana Dragos, Olivier Schneegans, Alec Moradpour, Sylvain Franger, et al.. Nanomodifications réversibles obtenues par AFM à pointe conductrice. Forum 2009 des microscopies à sonde locale, Mar 2009, Hardelot, France. pp. 92-93, 2009. <hal-00445407>
  • Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. Avancées successives sur la mesure de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice. Forum 2009 des microscopies à sonde locale, Mar 2009, Hardelot, France. pp. 94-95, 2009. <hal-00445404>
  • Pascal Chrétien, Ivan Estevez, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. The Resiscope module for DC conductivity measurements by AFM : an overview of performances and some various applications. International SPM Usermeeting, May 2008, Barcelone, Spain. pp.CD-ROM Proceedings, 2008. <hal-00351356>
  • Ivan Estevez, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. Mesures de capacité absolue par AFM à pointe conductrice: problématique et avancées récentes. Journées du GDR Micro Nano Systèmes, Dec 2008, Montpellier, France. 2008. <hal-00353331>
  • Olivier Schneegans, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien. Mesures de capacités plan/plan dans la gamme 1pF-1fF : mise en évidence des effets de bord, proposition d'un modèle et confrontation à des simulations numériques. Réunion Annuelle VEECO des Utilisateurs d'AFM, 2006, France. 2006. <hal-00320315>
  • José Alvarez, Jean-Paul Kleider, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, M. Liao, et al.. Mesures locales de photoconductivité par AFM à pointe conductrice sur des dispositifs métal-semiconducteur-métal à base de diamant. Réunion Annuelle VEECO des Utilisateurs d'AFM, 2006, France. 2006. <hal-00320320>
  • José Alvarez, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, Jean-Paul Kleider, C. Bazin, et al.. Local photoconductivity on Schottky diamond photodetectors measured by conducting probe atomic force microscopy. Diamond' 2006 (17th European Conference on Diamond, Diamond-Like Materials, Carbon Nanotubes and Nitrides), 2006, Portugal. 2006. <hal-00320301>
  • Olivier Schneegans, A. Moradpour, Lionel Boyer, Pascal Chrétien. Patterning molecular materials on nanometer scale by conducting probe AFM. Réunion annuelle des utilisateurs d'AFM Nanoscope, 2005, France. 2005. <hal-00320261>
  • Pascal Chrétien, Frédéric Houzé, Olivier Schneegans, René Meyer, Lionel Boyer. Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe AFM in contact mode. Xtip'05, 2005, France. 2005. <hal-00320256>
  • Frédéric Houzé, D. Mariolle, F. Bertin, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans. Caractérisation de profils de dopage par imagerie de résistance locale à faible force. 8ème Forum des Microscopies à Sonde Locale, 2005, France. 2005. <hal-00320231>
  • Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé, René Meyer, Lionel Boyer. Simultaneous height, resistance and capacitance cartography of a SRAM test sample by conducting probe AFM. Seing at the Nanoscale II, 2004, France. 2004. <hal-00320180>

Poster7 documents

  • Van Son Nguyen, Van Huy Mai, Alec Moradpour, Pascale Auban-Senzier, Claude Pasquier, et al.. Influence of electrical pulses on lithium cobalt oxide thin films : memristive behaviour and potential applications. International Conference on Nanotechnology - Nanotech France 2016, Jun 2016, Paris, France. <hal-01355412>
  • Van Son Nguyen, Van Huy Mai, Alec Moradpour, Pascale Auban-Senzier, Claude Pasquier, et al.. Caractérisations de cellules de mémoires résistives par AFM à pointe conductrice. 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. <hal-01355422>
  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Noelle Gogneau, Karim Bouzehouane, Olivier Schneegans, et al.. Formation de matière sur des surfaces imagées par AFM en mode intermittent : un artefact inattendu. 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. Actes du 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale. <hal-01317764>
  • Nicolas Jamond, Pascal Chrétien, Frédéric Houzé, Laurent Travers, Franck Glas, et al.. GaN nanowires based piezogenerator . Nanowires 2015, Oct 2015, Barcelone, Spain. pp.110, Nanowires 2015 - Book of Abstracts - Poster Sessions. <hal-01258198>
  • Paul Narchi, José Alvarez, Pascal Chrétien, Gennaro Picardi, Romain Cariou, et al.. Cross-sectional investigations on epitaxial silicon solar cells by Kelvin and Conducting Probe Atomic Force Microscopy: Effect of illumination. Journées Nationales du Photovoltaïque 2015 (JNPV 2015), Dec 2015, Dourdan, France. <hal-01238543>
  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé, Karim Bouzehouane, et al.. Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent. Journées Nationales Nanosciences et Nanotechnologies (J3N 2014), Nov 2014, Lyon, France. <hal-01338861>
  • Nicolas Jamond, Pascal Chrétien, L Largeau, Olivia Mauguin, Elisabeth Galopin, et al.. Effect of the AlN interfacial layer on the piezoelectric properties of GaN nanowires. Réunion plénière des GDR PULSE (Processus ULtimes en épitaxie de SEmiconducteurs) et NNS (NanoFils, Nanotubes, Semiconducteurs), Oct 2014, Toulouse, France. <hal-01338879>

Brevet2 documents

  • Olivier Schneegans, Pascal Chrétien, Frédéric Houzé. Appareil de mesure de la résistance électrique locale d'une surface. N° de brevet: PCT/IB2011/051951. 2011. <hal-00715270>
  • Olivier Schneegans, Pascal Chrétien, Frédéric Houzé. Appareil de mesure de la résistance électrique locale d'une surface. France, N° de brevet: FR 10 01940. 2010. <hal-00557019>

Autre publication2 documents

  • Pascal Chrétien, Frédéric Houzé, Olivier Schneegans. Transfert de savoir-faire pour la mise en forme, la fabrication et la mise sur le marché du Résiscope. Licence de logiciel et de savoir-faire n° L06161 avec la Société CS Instruments. 2007. <hal-00320405>
  • Pascal Chrétien, Frédéric Houzé, Olivier Schneegans, René Meyer, Lionel Boyer. Améliorations apportées au dispositif de mesure rapide de courant et de résistance électrique pouvant varier sur plusieurs décades. Enveloppe Soleau. 2006. <hal-00320345>