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Design of a Low-Capacitance Planar Transformer for a 4 kW/500 kHz DAB Converter

 Pierre Demumieux , Oriol Avino-Salvado , Cyril Buttay , Christian Martin , Fabien Sixdenier , et al.
APEC, Mar 2019, Anaheim, Californie, United States. pp.18720757, ⟨10.1109/APEC.2019.8722279⟩
Communication dans un congrès hal-02076183v1
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Evaluation of printed-circuit boards materials for high temperature operation

 Oriol Aviño Salvado , Wissam Sabbah , Cyril Buttay , Hervé Morel , Pascal Bevilacqua
HiTEN, IMAPS, Jul 2017, Cambridge, United Kingdom
Communication dans un congrès hal-01565131v1
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Analyse de la robustesse des MOSFET SiC pour les applications diode-less

 Oriol Aviño Salvado , Cheng Chen , Cyril Buttay , Hervé Morel , Denis Labrousse , et al.
Symposium de Génie Electrique (SGE'16), Jun 2016, Grenoble, France
Communication dans un congrès hal-01361711v1
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Lifetime of power electronics interconnections in accelerated test conditions: High temperature storage and thermal cycling

 Wissam Sabbah , Faical Arabi , Oriol Aviño Salvado , Cyril Buttay , Loic Théolier , et al.
Microelectronics Reliability, 2017, ⟨10.1016/j.microrel.2017.06.091⟩
Article dans une revue hal-01562549v1
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Benefits of GaN transistors and embedding in PCB laminates

 Cyril Buttay , Christian Martin , Charles Joubert , Hervé Morel , Bruno Allard , et al.
SIA Power Train & Electronics, Jun 2019, Paris, France
Communication dans un congrès hal-02291496v1
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SiC MOSFETs robustness for diode-less applications

 Oriol Aviño Salvado , C. Cheng , Cyril Buttay , Hervé Morel , D Labrousse , et al.
EPE Journal - European Power Electronics and Drives, 2018, pp.1 - 8. ⟨10.1080/09398368.2018.1456836⟩
Article dans une revue hal-01844980v1
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High temperature ageing of microelectronics assemblies with SAC solder joints

 Wissam Sabbah , Pierre Bondue , Oriol Aviño Salvado , Cyril Buttay , Héìène Frémont , et al.
Microelectronics Reliability, 2017, ⟨10.1016/j.microrel.2017.06.065⟩
Article dans une revue hal-01564755v1
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Threshold voltage instability in SiC MOSFETs as a consequence of current conduction in their body diode

 Oriol Aviño Salvado , Hervé Morel , Cyril Buttay , Denis Labrousse , Stéphane Lefebvre
Microelectronics Reliability, 2018, 88-90, pp.636-640. ⟨10.1016/j.microrel.2018.06.033⟩
Article dans une revue hal-01895791v1
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Evaluation of printed-circuit boards materials for high temperature operation

 Oriol Aviño Salvado , Wissam Sabbah , Cyril Buttay , Hervé Morel , Pascal Bevilacqua
Journal of Microelectronics and Electronic Packaging, 2017, 14 (4), ⟨10.4071/imaps.516313⟩
Article dans une revue hal-01674483v1

High temperature operation of SiC transistors

 Cyril Buttay , Marwan Ali , Oriol Aviño Salvado , Hervé Morel , Bruno Allard
Advanced Technology Workshop (ATW) on Thermal Management, IMAPS, Sep 2015, Los Gatos, CA, United States
Communication dans un congrès hal-01373030v1

Étude de la robustesse de l’oxyde de grille pour des applications aéronautiques

 Oriol Aviño Salvado , Hervé Morel , Cyril Buttay
JCGE, May 2017, Arras, France. pp.146345
Communication dans un congrès hal-01534712v1
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Physics-based Strategies for Fast TDDB Testing and Lifetime Estimation in SiC Power MOSFETs

 O. Aviñó-Salvadó , Cyril Buttay , F. Bonet , C. Raynaud , P. Bevilacqua , et al.
IEEE Transactions on Industrial Electronics, In press, ⟨10.1109/TIE.2023.3281705⟩
Article dans une revue hal-04147050v1
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