OS
Olivier Strauss
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Identifiants chercheurs
- olivier-strauss
- 0000-0003-4485-772X
- IdRef : 068902891
Présentation
<https://www.lirmm.fr/~strauss/>
Publications
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Thickness Measurement by Model-Based Exhaustive Analysis in Far-InfraredInfrared Physics and Technology, 2021, 116, pp.103742. ⟨10.1016/j.infrared.2021.103742⟩
Article dans une revue
hal-03203750v1
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