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96 résultats

Avancées successives sur la mesure de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice

Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frédéric Houzé
Forum 2009 des microscopies à sonde locale, Mar 2009, Hardelot, France. pp. 94-95
Communication dans un congrès hal-00445404v1

Specific methodology for capacitance imaging by atomic force microscopy: A breakthrough towards an elimination of parasitic effects

Ivan Estevez , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frédéric Houzé
Applied Physics Letters, 2014, 104 (8), pp.083108. ⟨10.1063/1.4866607⟩
Article dans une revue hal-01093500v1

Binary and analog resistive switching in LiCoO2-based, two-terminal, devices driven by reversible Li-ion migration

S.P. Ioannou , Evripides Kyriakides , O. Schneegans , John Giapintzakis
E-MRS 2019 Fall Meeting, Sep 2019, Warsaw, Poland
Communication dans un congrès hal-02322867v1
Image document

Stoichiometry and volume dependent transport in lithium ion memristive devices

Orfanidou C.M. , Panagiotis Ioannou , Evripides Kyriakides , Christiana Nicolaou , C. N. Mihailescu , et al.
AIP Advances, 2018, 8 (11), ⟨10.1063/1.5051568⟩
Article dans une revue hal-01936174v1

Formation de matière sur des surfaces imagées par AFM en mode intermittent : un artefact inattendu

Aymeric Vecchiola , Pascal Chrétien , Noelle Gogneau , Karim Bouzehouane , Olivier Schneegans , et al.
19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. Actes du 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale
Poster de conférence hal-01317764v1

“ Copper sample analyzed with an n-doped silicon tip using conducting probe atomic force microscopy

Olivier Schneegans , Lionel Boyer , Frédéric Houzé , René Meyer , Pascal Chrétien
Journal of Vacuum Science and Technology, 2002, 20, pp.1929
Article dans une revue hal-00098202v1

Typologie de courbes Déflexion-Résistance par AFM à pointe conductrice ; exemples de surfaces d'or recouvertes de monocouches d'alcanethiols

David Alamarguy , Olivier Schneegans , Sophie Noël , Lionel Boyer
Réunion annuelle des utilisateurs d'AFM Veeco, Grenoble, novembre 2003., 2003, Grenoble, France
Communication dans un congrès hal-00098214v1

Etude par AFM à pointe conductrice du comportement mécanique et électrique de films nanométriques greffés

David Alamarguy , Sophie Noël , Alessandro Benedetto , M. Balog , P. Viel , et al.
11èmes Journées de la Matière Condensée, Aug 2008, Strasbourg, France. pp.0
Communication dans un congrès hal-00351436v1

Nanosized Electrochemical Cells Operated by AFM Conducting Probes

Olivier Schneegans , A. Moradpour , Lionel Boyer , D. Ballutaud
Journal of Physical Chemistry B, 2004, 108, pp.9882-9887
Article dans une revue hal-00320147v1

Surface investigations of bonded perfluoro polyether monolayers on gold surfaces

David Alamarguy , Sophie Noël , Olivier Schneegans , René Meyer , Laurent Tristani , et al.
Surface and Interface Analysis, 2004, 36 (8), pp.1210-1213
Article dans une revue hal-00320157v1

Growth and transport measurements of HT-LixCoO2 thin films deposited by PLD

Efthymios Svoukis , G.I. Athanasopoulos , Alec Moradpour , Olivier Schneegans , R. Saint-Martin , et al.
E-MRS 2011, May 2011, Nice, France
Communication dans un congrès hal-00710614v1

Optimisation de la mesure de capacité électrique locale absolue par AFM à sonde conductrice

Ivan Estevez , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frédéric Houzé
14e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2011, Ecully, France. pp.87
Communication dans un congrès hal-00710620v1

Resistive switching phenomena in cobalt oxide thin films

Olivier Schneegans
EMN Open Access Week 2014, Sep 2014, Chengdu, China. pp.20
Communication dans un congrès hal-01099310v1

Caractérisations de cellules de mémoires résistives par AFM à pointe conductrice

van Son Nguyen , van Huy Mai Mai , Alec Moradpour , Pascale Auban-Senzier , Claude R. Pasquier , et al.
19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France
Poster de conférence hal-01355422v1

Hyperspectral EELS Image Unmixing

Yoann Altmann , Nathalie Brun , Nicolas Dobigeon , Katia March , Saïd Moussaoui , et al.
6th Conference in Spectral Imaging (IASIM 2016), Jul 2016, Chamonix, France. 2016, Proceedings of the 6th Conference in Spectral Imaging (IASIM 2016)
Poster de conférence hal-01441160v1

Anisotropy and interaction effects of strongly strained SrIrO3 thin films

Luc Fruchter , Olivier Schneegans , Z.Z. Li
Journal of Applied Physics, 2016, 120, pp.075307. ⟨10.1063/1.4960700⟩
Article dans une revue hal-01363481v1

Avancées récentes sur les mesures de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en contact intermittent

Aymeric Vecchiola , Frédéric Houzé , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans
17e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2014, Montauban, France. pp.114 - 115
Communication dans un congrès hal-01093608v1

Resistive Switching Phenomena in LixCoO2 Thin Films

van Huy Mai , Alec Moradpour , Pascale Auban-Senzier , C. R. Pasquier , Kang Wang , et al.
IWAMSN 2014, Nov 2014, Ha Long City, Vietnam
Communication dans un congrès hal-01099303v1

Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent

Aymeric Vecchiola , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frédéric Houzé , Karim Bouzehouane , et al.
Journées Nationales en Nanosciences et Nanotechnologies J3N 2013, Nov 2013, Marseille, France
Communication dans un congrès hal-00927020v1

Memristive element and electronic memory based on such elements

Moradpour Alexandre , Olivier Schneegans , Alexandre Revcolevschi , Sylvain Franger , Raphaël Salot
United States, Patent n° : 9331274. 2016
Brevet hal-01713331v1

Caractérisation de profils de dopage par imagerie de résistance locale à faible force

Frédéric Houzé , D. Mariolle , F. Bertin , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans
8ème Forum des Microscopies à Sonde Locale, 2005, France
Communication dans un congrès hal-00320231v1

Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe AFM in contact mode

Pascal Chrétien , Frédéric Houzé , Olivier Schneegans , René Meyer , Lionel Boyer
Xtip'05, 2005, France
Communication dans un congrès hal-00320256v1

Appareil de mesure de la résistance électrique locale d'une surface

Olivier Schneegans , Pascal Chrétien , Frédéric Houzé
France, N° de brevet: FR 10 01940. 2010
Brevet hal-00557019v1

Effects of Voltage Pulse Characteristics on some Performance Parameters of LixCoO2-based Resistive Switching Memory Devices

van Son Nguyen , van Huy Mai , Moradpour Alexandre , Pascale Auban Senzier , Claude Pasquier , et al.
19th International Conference on Nanoscience and Nanotechnology (ICNN 2017), Apr 2017, Paris, France
Communication dans un congrès hal-01629706v1

Cobalt oxide thin films towards non volatile memory applications

van Son Nguyen , van Huy Mai , Moradpour Alexandre , Pascale Auban Senzier , Claude R. Pasquier , et al.
6th Internat. Workshop on Nanotechnology and Application (IWNA 2017), Nov 2017, Phan Thiet, Vietnam
Communication dans un congrès hal-01630957v1

Effect of Ge-dots buried below the interface on the transport properties of Schottky diodes

A. Hattab , F. Dufaye , F. Meyer , Yam Vy , Thanh Vinh Le , et al.
International Conference on Superlattices Nano-Structures and Nano-Devices ICSNN 2002, Jul 2002, Toulouse, France. pp.648-650
Communication dans un congrès in2p3-00013947v1

Bursting dynamics in a spiking neuron with a memristive voltage-gated channel

Jiaming Wu , Kang Wang , Olivier Schneegans , Pablo Stoliar , Marcelo Rozenberg
Neuromorphic Computing and Engineering, 2023, 3 (4), pp.044008. ⟨10.1088/2634-4386/ad139b⟩
Article dans une revue hal-04495719v1

Multi-scale study of the electrical properties of organic layers grafted on gold surfaces

Sophie Noël , David Alamarguy , Nicole Lécaudé , Olivier Schneegans , Laurent Tristani
51st IEEE Holm Conference, 2005, United States
Communication dans un congrès hal-00320254v1

Patterning molecular materials on nanometer scale by conducting probe AFM

Olivier Schneegans , A. Moradpour , Lionel Boyer , Pascal Chrétien
Réunion annuelle des utilisateurs d'AFM Nanoscope, 2005, France
Communication dans un congrès hal-00320261v1

Mesures de capacité absolue par AFM à pointe conductrice: problématique et avancées récentes

Ivan Estevez , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frédéric Houzé
Journées du GDR Micro Nano Systèmes, Dec 2008, Montpellier, France
Communication dans un congrès hal-00353331v1