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Noël SERVAGENT

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Development of an ultra thin beam profiler for charged particle beams

B. Boyer , R. Cornat , E. Delagnes , Y. Geerebaert , O. Gevin
14th Pisa Meeting on Advanced Detectors, May 2018, La Biodola-Isola d'Elba, Italy. pp.29-30, ⟨10.1016/j.nima.2018.09.134⟩
Communication dans un congrès hal-02475944v1