CV Accueil - Archive ouverte HAL

	Improvement of summer comfort on light framework buildings with phase change materials (PCM) J. Virgone , S. Lepers , J. Noel Climamed, Sep 2007, Gênes, Italy Communication dans un congrès hal-00445936v1
	Introduction of Comfort into Software CODYBA J. Virgone , J. Noel HB2006, Healthy Buildings, Jun 2006, Lisbonne, Spain Communication dans un congrès hal-00357972v1
	Présentation et perspectives du logiciel CODYBA J. Noel , J.-J. Roux , J. Virgone Journées SFT/ IBPSA, Mar 2005, La Rochelle, France Communication dans un congrès hal-00361812v1
	Modélisation des stores vénitiens. Influence de leur gestion d'ouverture sur les bilans thermiques d'été J.-J. Roux , N. Safer , M. Woloszyn , J. Noel Climaned, Feb 2005, Madrid, Espagne Communication dans un congrès hal-00361816v1
	Light Emission to time resolved emission for IC debug and failure analysis Mustapha Remmach , A. Pigozzi , Romain Desplats , Philippe Perdu , Dean Lewis European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and analysis (ESREF), 2005, arcachon, France. pp.1476-1481 Communication dans un congrès hal-00401497v1

	Human ASIC3 channel dynamically adapts its activity to sense the extracellular pH in both acidic and alkaline directions A. Delaunay , X. Gasull , M. Salinas , J. Noël , V. Friend Proceedings of the National Academy of Sciences of the United States of America, 2012, 109 (32), pp.13124-13129. ⟨10.1073/pnas.1120350109⟩ Article dans une revue hal-03039220v1
	Optimization of a Phase Change Material Wallboard for Building Use F. Kuznik , J. Virgone , J. Noel Applied Thermal Engineering, 2008, 11 (12), pp.1291-1298 Article dans une revue hal-00352322v1
	TREK-1, a K+ channel involved in polymodal pain perception. A. Alloui , K. Zimmermann , J. Mamet , Frederic Duprat , J. Noël EMBO Journal, 2006, 25, pp.2368-2376 Article dans une revue hal-00091208v1
	Light Emission To time resolved emission for IC debug and failure analysis Mustapha Remmach , A. Pigozzi , Romain Desplats , Philippe Perdu , Dean Lewis Microelectronics Reliability, 2005, 5, pp.1476-1481 Article dans une revue hal-00401289v1

Julien Noel