Recherche - Archive ouverte HAL Accéder directement au contenu

Filtrer vos résultats

51 résultats
Page :
triés par

Managing Wear out and Variability Monitors: IEEE 1687 to the Rescue

 Lorena Anghel , Michele Portolan
East West Design and test Symposium, Oct 2016, Yerevan, Armenia
Communication dans un congrès hal-01513840v1

On the Need for Common Evaluation Methods for Fault Tolerance Costs in Microprocessors

 Michele Portolan , Régis Leveugle
2005, pp.247- 252, ⟨10.1109/IOLTS.2005.46⟩
Communication dans un congrès hal-00103942v1
Image document

Conception d'un Système Embarque Sur et Sécurisé

 Michele Portolan
Micro et nanotechnologies/Microélectronique. Institut National Polytechnique de Grenoble - INPG, 2006. Français. ⟨NNT : ⟩
Thèse tel-00163980v1

A highly flexible hardened RTL processor core based on LEON

 Michele Portolan , Régis Leveugle
8th European Conference on Radiation and its Effects on Components and Systems (RADECS'05), Sep 2005, Cap d'Agde, France
Communication dans un congrès hal-01400092v1

Targeting approximation through data lifetime: a quest for optimization metrics

 A. Savino , Michele Portolan , S. Di Carlo , Régis Leveugle
4th Approximate Computing Workshop (AxC 2019), Mar 2019, Florence, Italy
Communication dans un congrès hal-02108592v1

Fast register criticality evaluation in a SPARC microprocessor

 K. Chibani , Michele Portolan , Régis Leveugle
10th Conference on Ph.D Research in Microelectronics and Electronics (PRIME'14), Jun 2014, Grenoble, France. pp.1-4
Communication dans un congrès hal-01132407v1

Operating system function reuse to achieve low-cost fault tolerance

 Michele Portolan , Régis Leveugle
2004, pp.167- 172
Communication dans un congrès hal-00130530v1

Reliability of computing systems: From flip flops to variables

 Giorgio Di Natale , Maha Kooli , Alberto Bosio , Michele Portolan , Régis Leveugle
IOLTS: International On-Line Testing Symposium, Jul 2017, Thessaloniki, Greece. pp.196-198, ⟨10.1109/IOLTS.2017.8046242⟩
Communication dans un congrès lirmm-01700744v1

New Perspectives on Core In-field Path Delay Test

 Lorena Anghel , Riccardo Cantoro , D. Foti , Michele Portolan , S. Sartoni , et al.
International Test Conference (ITC 2020), Nov 2020, Washington DC, United States
Communication dans un congrès hal-03001829v1

Approximate computing design exploration through data lifetime metrics

 A. Savino , Michele Portolan , Régis Leveugle , S. Di Carlo
24th IEEE European Test Symposium (ETS 2019), May 2019, Baden Baden, Germany
Communication dans un congrès hal-02110003v1

Fast accurate evaluation of register lifetime and criticality in a pipelined microprocessor

 K. Chibani , M. Ben Jrad , Michele Portolan , Régis Leveugle
22nd IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC'14), Oct 2014, Playa del Carmen, Mexico. pp.260-265
Communication dans un congrès hal-01131896v1

Integrated circuit test apparatus and method

 Michele Portolan
United States, Patent n° : US 20200150177 A1. 2020
Brevet hal-03812150v1

Refreshing the JTAG Family

 Michele Portolan , Martin Keim , Jeff Rearick , Heiko Ehrenberg
IEEE 41st VLSI Test Symposium (VTS 2023), Apr 2023, San Diego, United States. ⟨10.1109/VTS56346.2023.10140015⟩
Communication dans un congrès hal-04143227v1

I Wish IJTAG would do this

 Hans-Martin von Staudt , Michele Portolan , Jean-François Cote , Tom Waayers , Jeff Rearick
27th IEEE European Test Symposium (ETS 2022), May 2022, Barcelona, Spain
Communication dans un congrès hal-03780250v1

Simulation-based Equivalence Checking between IEEE 1687 ICL and RTL

 A. Damljanovic , A. Jutman , Michele Portolan , Ernesto Sanchez , G. Squillero , et al.
International Test Conference (ITC 2019), Nov 2019, Washington DC, United States
Communication dans un congrès hal-02376427v1

System Level Coordination of Multiple-Standard DfT

 Michele Portolan
Test Standards Application Workshop (TESTA’16), May 2016, Amsterdam, Netherlands
Communication dans un congrès hal-01524100v1

Criticality evaluation of embedded software running on a pipelined microprocessor and impact of compilation options

 K. Chibani , S. Bergaoui , Michele Portolan , Régis Leveugle
IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS), Dec 2014, Marseille, France. pp.778-781
Communication dans un congrès hal-01103166v1

Usefulness and effectiveness of HW and SW protection mechanisms in a processor-based system

 Pierre Vanhauwaert , Michele Portolan , Régis Leveugle , P. Roche
IEEE International Conference on Electronics, Circuits and Systems (ICECS'08), Sep 2008, Saint Julians, Malta. pp.113-116
Communication dans un congrès hal-00322962v1
Image document

A Comprehensive End-to-end Solution for a Secure and Dynamic Mixed-signal 1687 System

 Michele Portolan , R. Silveira Feitoza , G. Takam Tchendjou , V. Reynaud , K. Senthamarai Kannan , et al.
2020 International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2020), Jul 2020, Naples (Virtual Conference), Italy. ⟨10.1109/IOLTS50870.2020.9159721⟩
Communication dans un congrès hal-02939302v1

Towards a secure and reliable system

 Michele Portolan , Régis Leveugle
2005, pp.1085-1098, ⟨10.1007/11596356_108⟩
Communication dans un congrès istex hal-00130542v1

Réalisation d'une tolérance aux fautes à bas coût dans les SoCs en utilisant le système d'exploitation

 Michele Portolan , Régis Leveugle
VIIème Journées Nationales du Réseau Doctoral en Microélectronique (JNRDM'04), May 2004, Marseille, France. pp.454-456
Communication dans un congrès hal-01400098v1

A Functional Approach to Test and Debug of IEEE 1687 Reconfigurable Networks

 Michele Portolan , Riccardo Cantoro , E. Sanchez
European Test Symposium (ETS 2019), May 2019, Baden Baden, Germany
Poster de conférence hal-02326980v1

Standards: Can they co-exist for System Level Test?

 Michele Portolan
VLSI Test Symposium, Apr 2016, Las Vegas, NE, United States
Communication dans un congrès hal-01445024v1

L’apprentissage par projet en microélectronique numérique Vers l’acquisition d’un savoir-faire

 Grégoire Lehouque , Antoine Costani , Michele Portolan , Laurent Fesquet
Journal sur l'enseignement des sciences et technologies de l'information et des systèmes, 2022, 21 (1015), pp.7. ⟨10.1051/j3ea/20221015⟩
Article dans une revue hal-04018033v1

Evaluating Application-Aware Soft Error Effects in Digital Circuits Without Fault Injections or Probabilistic Computations

 K. Chibani , Michele Portolan , Régis Leveugle
22nd IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS'16), Jul 2016, St Feliu de Guixols, Spain. pp.54-59
Communication dans un congrès hal-01444967v1
Image document

Flexible and Portable Management of Secure Scan Implementations Exploiting P1687.1 Extensions

 Michele Portolan , Emanuele Valea , Paolo Maistri , Giorgio Di Natale
IEEE Design & Test, 2022, IEEE Design & Test, 39 (3), pp.117-124. ⟨10.1109/MDAT.2021.3117875⟩
Article dans une revue hal-03370952v1

A context-switch based checkpoint and rollback scheme

 Michele Portolan , Régis Leveugle
19th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS'04), Nov 2004, Bordeaux, France. pp.423-428
Communication dans un congrès hal-01393251v1
Image document

Secure Test with RSNs: Seamless Authenticated Extended Confidentiality

 Paolo Maistri , V. Reynaud , Michele Portolan , Régis Leveugle
19th IEEE International New Circuits and Systems Conference (NEWCAS 2021), Jun 2021, Toulon, France
Communication dans un congrès hal-03287523v1
Image document

Evolutions of the Software Flow for Automated Testing

 Michele Portolan
Automatic. Université Grenoble Alpes, 2024
HDR tel-04526188v1

Effective checkpoint and rollback using hardware/OS collaboration

 Michele Portolan , Régis Leveugle
22nd IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems (DFT 2007), Rome, Italy, September 26-28, Sep 2007, Rome, Italy. pp.370-378
Communication dans un congrès hal-00185905v1
Page :