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MR
michel renovell
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Identifiants chercheurs
- michel-renovell
- 0000-0002-3896-8231
- IdRef : 031539130
Présentation
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An Efficient BIST Architecture for Delay Faults in the Logic Cells of Symmetrical SRAM-Based FPGAsJournal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2006, 22 (2), pp.161-172. ⟨10.1007/s10836-005-4631-1⟩
Article dans une revue
lirmm-00135456v1
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Delay Fault Testing of Look-Up Tables in SRAM-Based FPGAsJournal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2005, 21 (1), pp.43-55. ⟨10.1007/s10836-005-5286-7⟩
Article dans une revue
lirmm-00105329v1
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BIST of Delay Faults in the Logic Architecture of Symmetrical FPGAsIOLTS: International On-Line Testing Symposium, Jul 2004, Madeira Island, Portugal. pp.187-192, ⟨10.1109/OLT.2004.1319686⟩
Communication dans un congrès
lirmm-00108824v1
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Manufacturing-Oriented Testing of Delay Faults in the Logic Architecture of Symmetrical FPGAsETS: European Test Symposium, May 2004, Ajaccio, Corsica, France. pp.117-122
Communication dans un congrès
lirmm-00108905v1
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High Quality TPG for Delay Faults in Look-Up Tables of FPGAsDELTA'04: 2nd International Workshop on Electronic DesignTest and Applications, Jan 2004, Perth (Australia), pp.83-88
Communication dans un congrès
lirmm-00108830v1
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Requirements for Delay Testing of Look-Up Tables in SRAM-Based FPGAsETW: European Test Workshop, May 2003, Maastricht, Netherlands. pp.147-152
Communication dans un congrès
lirmm-00269530v1
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Timing Defect Analysis in Look-Up Tables of SRAM-Based FPGAsLATW: Latin American Test Workshop, Feb 2003, Natal, Brazil. pp.26-31
Communication dans un congrès
lirmm-00269497v1
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Conditions pour le Test de Pannes de Délai des Look-Up Table dans les FPGA à Base de SRAMJNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, May 2003, Toulouse, France. pp.381-383
Communication dans un congrès
lirmm-00269544v1
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Defect Analysis for Delay-Fault BIST in FPGAsIOLTS: International On-Line Testing Symposium, Jul 2003, Kos, Greece. pp.124-128, ⟨10.1109/OLT.2003.1214378⟩
Communication dans un congrès
lirmm-00269553v1
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Pannes Temporelles dans les FPGAColloque du GDR CAO de Circuits et Systèmes Intégrés, May 2002, Paris, France. pp.43-46
Communication dans un congrès
lirmm-00269327v1
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Test de Circuits et de Systèmes IntégrésCollection EGEM, Ed.Hermès, 2004, 2-7462-0864-4
Ouvrages
lirmm-00109158v1
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