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	Influence of Gate Oxide Short Defects on the Stability of Minimal Sized SRAM Core-Cell by Applying Non-Split Models Jean-Marc J.-M. Galliere , Florence Azaïs , Michel Renovell , Luigi Dilillo DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, 2009, Cairo, Egypt. pp.225-229 Communication dans un congrès lirmm-00370798v1

	Rapport Technique intermédiaire, Contrat TOETS CT 302, Programme CEE CATRENE Patrick Girard , Serge Bernard , Florence Azaïs , Alberto Bosio , Luigi Dilillo 2011 Autre publication scientifique lirmm-00679018v1
	Rapport Technique de fin d'année, Contrat TOETS CT 302, Programme CEE CATRENE Patrick Girard , Serge Bernard , Florence Azaïs , Alberto Bosio , Luigi Dilillo 2011 Autre publication scientifique lirmm-00679022v1
	TOETS CT302 - Programme CEE CATRENE - Summary Technical Report 2S-2009 - Rapport Technique de Fin d'année Patrick Girard , Florence Azaïs , Serge Bernard , Alberto Bosio , Luigi Dilillo 2010 Autre publication scientifique lirmm-00461745v1
	Contrat TOETS CT 302 - Programme CEE CATRENE (Rapport Intermédiaire) Patrick Girard , Serge Bernard , Florence Azaïs , Alberto Bosio , Luigi Dilillo 2010 Autre publication scientifique lirmm-00504873v1

michel renovell