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	Remote Labs for Industrial IC Testing Béatrice Pradarelli , Laurent Latorre , Marie-Lise Flottes , Yves Bertrand , Pascal Nouet IEEE Transactions on Learning Technologies, 2009, 2 (4), pp.304-311. ⟨10.1109/TLT.2009.46⟩ Article dans une revue lirmm-00435903v1