Marie-Lise Flottes

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42467

"david-hely"

	Sensitivity to Laser Fault Injection: CMOS FD-SOI vs. CMOS bulk J.-M. Dutertre , Vincent Beroulle , Philippe Candelier , Stephan de Castro , Louis-Barthelemy Faber IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2019, 19 (1), pp.6-15. ⟨10.1109/TDMR.2018.2886463⟩ Article dans une revue hal-01971932v1