Marie Gueunier-Farret

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	Deep defects and their electron capture cross sections in polymorphous silicon-germanium thin films M. Meaudre , Marie-Estelle Gueunier-Farret , R. Meaudre , Jean-Paul Kleider , S. Vignoli Journal of Applied Physics, 2005, 98, pp.33531 Article dans une revue hal-00321252v1