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Mariane Comte

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mariane-comte
IdRef : 078523052

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938340

	Efficiency of Optimized Dynamic Test Flows for ADCs: Sensitivity to Specifications Florence Azaïs , Serge Bernard , Mariane Comte , Yves Bertrand , Michel Renovell Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2005, 21 (3), pp.291-298. ⟨10.1007/s10836-005-6358-4⟩ Article dans une revue lirmm-00105322v1
	Efficiency of Spectral-Based ADC Test Flows to Detect Static Errors Mariane Comte , Florence Azaïs , Yves Bertrand , Michel Renovell Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2004, Vol. 20 n°3, pp. 257-267. ⟨10.1023/B:JETT.0000029459.74815.56⟩ Article dans une revue hal-00004514v1
	Correlation Between Static and Dynamic Parameters of A-to-D Converters: In the View of a Unique Test Procedure Florence Azaïs , Serge Bernard , Yves Bertrand , Mariane Comte , Michel Renovell Journal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2004, 20 (4), pp.375-387. ⟨10.1023/B:JETT.0000039605.02565.ef⟩ Article dans une revue lirmm-00108545v1
	A-to-D Converter Static Error Detection from Dynamic Parameter Measurements Florence Azaïs , Serge Bernard , Yves Bertrand , Mariane Comte , Michel Renovell Microelectronics Journal, 2003, 34 (10), pp. 945-953. ⟨10.1016/S0026-2692(03)00161-7⟩ Article dans une revue lirmm-00269601v1

	An IR-Drop Simulation Principle Oriented to Delay Testing Marina Aparicio Rodriguez , Mariane Comte , Florence Azaïs , Yves Bertrand , Michel Renovell DCIS 2012 - 27th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems, Nov 2012, Avignon, France. pp.404-409 Communication dans un congrès lirmm-00804254v1
	LH-BIST for Digital Correction of ADC Offset Serge Bernard , Florence Azaïs , Mariane Comte , Yves Bertrand , Michel Renovell DTIS: Design and Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era, 2009, Cairo, Egypt. pp.199-203 Communication dans un congrès lirmm-00375659v1
	Fast and Fully-Efficient Test Flow for ADCs Serge Bernard , Mariane Comte , Florence Azaïs , Yves Bertrand , Michel Renovell IMSTW'05: 11th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop, Jun 2005, Cannes, pp.244-249 Communication dans un congrès lirmm-00106523v1
	Analysis of the Specification Influence on the Efficiency of an Optimized Test Flow for ADCs Mariane Comte , Florence Azaïs , Serge Bernard , Yves Bertrand , Michel Renovell IMSTW: International Mixed-Signal Testing Workshop, Jun 2003, Sevilla, Spain. pp.185-190 Communication dans un congrès lirmm-00269583v1
	An Automatic Tool for Generation of ADC BIST Architecture Serge Bernard , Florence Azaïs , Mariane Comte , Yves Bertrand , Michel Renovell IMSTW: International Mixed-Signal Testing Workshop, Jun 2003, Sevilla, Spain. pp.79-84 Communication dans un congrès lirmm-00269580v1
	Automatic Generation of LH-BIST Architecture for ADC Testing Serge Bernard , Florence Azaïs , Mariane Comte , Yves Bertrand , Michel Renovell IWADC'03: IEEE International Workshop on ADC Modelling and Testing, Sep 2003, Perugia, Italy. pp.7-12 Communication dans un congrès lirmm-00269683v1
	On the Efficiency of Measuring ADC Dynamic Parameters to Detect ADC Static Errors Mariane Comte , Florence Azaïs , Serge Bernard , Yves Bertrand , Michel Renovell LATW: Latin American Test Workshop, Feb 2003, Natal, Brazil. pp.198-203 Communication dans un congrès lirmm-00269498v1
	A New Methodology for ADC Test Flow Optimization Serge Bernard , Mariane Comte , Florence Azaïs , Yves Bertrand , Michel Renovell ITC: International Test Conference, Sep 2003, Charlotte, NC, United States. pp.201-209, ⟨10.1109/TEST.2003.1270841⟩ Communication dans un congrès lirmm-00269527v1
	Mesure des Paramètres Statiques des Convertisseurs A/N par une Analyse Spectrale Mariane Comte , Florence Azaïs , Serge Bernard , Yves Bertrand , Michel Renovell Colloque du GDR CAO de Circuits et Systèmes Intégrés, May 2002, Paris, France. pp.47-50 Communication dans un congrès lirmm-00269325v1
	On the Evaluation of ADC Static Parameters Through Dynamic Testing Mariane Comte , Florence Azaïs , Serge Bernard , Yves Bertrand , Michel Renovell ADDA & EWADC, Jun 2002, Prague, Czech Republic. pp.95-98 Communication dans un congrès lirmm-00269338v1
	Estimating Static Parameters of A-to-D Converters from Spectral Analysis Florence Azaïs , Serge Bernard , Yves Bertrand , Mariane Comte , Michel Renovell LATW: Latin American Test Workshop, Feb 2002, Montevideo, Uruguay. pp.174-179 Communication dans un congrès lirmm-00269320v1
	Evaluation of ADC Static Parameters via Frequency Domain Florence Azaïs , Serge Bernard , Yves Bertrand , Mariane Comte , Michel Renovell IMSTW'02: 8th IEEE International Mixed-Signal Testing Workshop, Jun 2002, Montreux, Switzerland. pp.165-169 Communication dans un congrès lirmm-00269347v1