Marc Legros
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Présentation
Publications
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Mechanisms of power module source metal degradation during electro-thermal agingMicroelectronics Reliability, 2017, 76-77, pp.507 - 511. ⟨10.1016/j.microrel.2017.06.086⟩
Article dans une revue
hal-01575130v1
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In-depth investigation of metallization aging in power MOSFETsMicroelectronics Reliability, 2015, Proceedings of the 26th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, SI:Proceedings of ESREF 2015, 55 (9-10), pp.1966-1970. ⟨10.1016/j.microrel.2015.06.036⟩
Article dans une revue
hal-01700466v2
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Analyse du vieillissement de la métallisation d'un MOSFET par la distribution du potentiel de sourceSymposium de Genie Electrique, Jun 2016, Grenoble, France
Communication dans un congrès
hal-01361625v1
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Aluminum metallization and wire bonding aging in power MOSFET modules2017
Pré-publication, Document de travail
hal-01491384v1
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