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Marc Legros

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Subgrains, micro-twins and dislocations characterization in monolike Si using TEM and in-situ TEM

Arthur Lantreibecq , Jean-Philippe Monchoux , E Pihan , Benoit Marie , Marc Legros
Extended Defects In Semiconductors 2016 (EDS 2016), Sep 2016, Les Issambres, France
Communication dans un congrès hal-01571054v2