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Karim Inal

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Présentation

Thèse Orsay-ENSAM, ATER ENSAM Paris, MCF ENSAM Metz puis Aix en Provence, Pr ENSMSE Gardanne, Pr MinesParisTech Sophia

Publications

868639

Mechanical Issues Induced by Electrical Wafer Sort: Correlations from actual tests, Nanoindentation and 3D Dynamic Modeling

 Romuald Roucou , Vincent Fiori , Karim Inal , Hervé Jaouen
Electronics System Integration Technology Conference ESTC 2010, Sep 2010, Berlin, Germany. pp.P0027, ⟨10.1109/ESTC.2010.5642863⟩
Communication dans un congrès emse-00533813v1

Mechanical study of the probing effect on PAD structures

 Romuald Roucou , Florian Cacho , Vincent Fiori , Karim Inal , Xavier Boddaert
ARCSIS Micropackaging Days Thin and Flexible Packaging 2009, Oct 2009, Gardanne, France
Communication dans un congrès emse-00470630v1