J.-M. Delord, S. Badi, J.-F. Roux, J.-L. Coutaz, S. Formont, et al.. Caractérisation d'échantillonneurs optoélectroniques pour applications radiofréquences.
Caractérisation d'échantillonneurs optoélectroniques pour applications radiofréquences, May 2009, Grenoble, France. Journées Nationales Microondes, 2009.
〈hal-00602674〉