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Henda Chaabouni

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Henda.chaabouni@cyu.fr Associate Prof LERMA CY Cergy Paris Université

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thierry-lacrevaz

« Investigation on TSV impact on 65nm CMOS devices and circuits »

 Henda Chaabouni , Rousseau M. , Leduc P. , Farcy A. , Farhane R. El
, IEEE International Electron Devices Meeting,, Dec 2010, San Francisco, United States
Communication dans un congrès hal-01074810v1