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System Level Analysis and Accurate Prediction of Electromigration
Tushar Gupta
,
Clément Bertolini
,
Olivier Héron
,
Nicolas Ventroux
,
Thomas Zimmer
,
et al.
European Workshop on CMOS Variability (VARI), May 2011, Grenoble, France. pp.1
Communication dans un congrès
hal-00674319v1
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Improvement of ageing simulation of electronic circuits based on behavioural modelling
François Marc
,
Benoit Mongellaz
,
Corinne Bestory
,
Herve Levi
,
Yves Danto
IPFA 2005, 2005, Singapore. pp.195-199
Communication dans un congrès
hal-00181897v1
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Modèle Comportemental VHDL-AMS d'un Amplificateur CMOS à Transconductance: Application à la conception de filtres
Benoit Mongellaz
,
Anne Schmitt
,
Noëlle Lewis
,
François Marc
,
Yves Danto
SETIT 2003, 2003, Tunisie. pp.1
Communication dans un congrès
hal-00181901v1
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A physical and versatile aging compact model for hot carrier degradation in SiGe HBTs under dynamic operating conditions
C. Mukherjee
,
F. Marc
,
M. Couret
,
G.G. Fischer
,
M. Jaoul
,
et al.
Article dans une revue
hal-02475429v1
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Influence of temperature of storage, write and read operations on multiple level cells NAND flash memories
Julien Coutet
,
Francois Marc
,
Flavien Dozolme
,
Romain Guétard
,
Aurélien Janvresse
,
et al.
Article dans une revue
hal-01946449v1
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Improvement of Aging Simulation of Electronic Circuits Using Behavioral Modeling
François Marc
,
Benoit Mongellaz
,
Corinne Bestory
,
Herve Levi
,
Yves Danto
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2006, 1, pp.228-234
Article dans une revue
hal-00181801v1
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A general methodology using an electron beam tester applied to failure localization inside a logic integrated circuit
François Marc
,
Hélène Fremont
,
Paul Jounet
,
M. Barre
,
Yves Danto
Microelectronic Engineering, 1995, 26, pp.181-193
Article dans une revue
hal-00181885v1
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Study of Degradations in PCB Interconnections for High Frequency Applications
Geneviève Duchamp
,
Frédéric Verdier
,
Bruno Levrier
,
François Marc
,
Yves Ousten
,
et al.
IPFA 2005, 2005, Singapore. pp.253-257
Communication dans un congrès
hal-00181898v1
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Modélisation comportementale de la fiabilité des circuits intégrés complexes
François Marc
,
Benoit Mongellaz
,
Yves Danto
RTP Fiabilité, 2004, France
Communication dans un congrès
hal-00181918v1
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Preliminary results of storage accelerated aging test on InP/GaAsSb DHBT
Gilles Amadou Kone
,
S. Ghosh
,
Brice Grandchamp
,
Cristell Maneux
,
François Marc
,
et al.
International Conference on Indium Phosphide and Related Materials (IPRM 2011), May 2011, Berlin, Germany. pp.1
Communication dans un congrès
hal-00585590v1
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Thermal aging model of InP/InGaAs/InP DHBT
S. Ghosh
,
F. Marc
,
C. Maneux
,
B. Grandchamp
,
G. A. Koné
,
et al.
Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Oct 2010, gaeta, Italy. pp.1-4
Communication dans un congrès
hal-01002465v1
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Proceedings of 24th European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis - ESREF 2013 (Special issue of Microelectronics Reliability, Vol. 53, Issues 9-11) (2013)
Nathalie Labat
,
François Marc
Elsevier, pp.650, 2013
Ouvrages
hal-00995849v1
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Preliminary results of storage accelerated aging test on InP/InGaAs DHBT
Gilles Amadou Koné
,
Brice Grandchamp
,
Cyril Hainaut
,
François Marc
,
Cristell Maneux
,
et al.
Article dans une revue
istex
hal-00585073v1
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Long term accelerated ageing of an ASIC dedicated to cryptographic application
Julien Coutet
,
Emmanuel Doche
,
Romain Guétard
,
Aurélien Janvresse
,
Suzel Lavagne
,
et al.
Article dans une revue
hal-02394907v1
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Investigation of the degradation mechanisms of InP/InGaAs DHBT under bias stress conditions to achieve electrical aging model for circuit design
S. Ghosh
,
B. Grandchamp
,
G. A. Koné
,
F. Marc
,
C. Maneux
,
et al.
22th European Symposium on the RELIABILITY OF ELECTRON DEVICES, FAILURE PHYSICS AND ANALYSIS, Oct 2011, bordeaux, France. pp.1-4
Communication dans un congrès
hal-01002192v1
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Reliability of submicron InGaAs/InP DHBT on Accelerated Aging Tests under Thermal and Electrical stresses
G. A. Koné
,
B. Grandchamp
,
C. Hainaut
,
F. Marc
,
C. Maneux
,
et al.
22th European Symposium on the RELIABILITY OF ELECTRON DEVICES, FAILURE PHYSICS AND ANALYSIS, Oct 2011, bordeaux, France. pp.1-4
Communication dans un congrès
hal-01002459v1
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Conception fiabilisée pour les circuits à nanodispositifs
François Marc
Atelier du GDR Nanoélectronique / SOP-SIC - De la modélisation des nanodispositifs aux circuits innovants, Dec 2009, Bordeaux, France
Communication dans un congrès
hal-00499488v1
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FPGA LUT delay degradation due to HCI: Experiment and simulation results
Mohammad Naouss
,
F. Marc
Article dans une revue
hal-01661820v1
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Practical implementation of reliability aware compact models in simulation software environnement
Bertrand Ardouin
,
Zimmer Thomas
,
Jean-Yves Dupuy
,
Jean Godin
,
Virginie Nodjiadjim
,
et al.
Bipolar ArbeitsKreis, Nov 2017, Erfurt, Germany
Communication dans un congrès
hal-02511647v1
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Ageing simulation of MOSFET circuit using a VHDL-AMS behavioural modelling: An experimental case study
Benoit Mongellaz
,
François Marc
,
Yves Danto
Microelectronics Reliability, 2003, 43, pp.1
Article dans une revue
hal-00181803v1
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A CMOS Analogue Function VHDL-AMS Behavioral Ageing Model
Benoit Mongellaz
,
François Marc
,
Corinne Bestory
,
Yves Danto
IEEE International Symposium on Industrial Electronics (ISIE) 2004, 2004, France. pp.1
Communication dans un congrès
hal-00181899v1
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Algorithme génétique adapté à la conception d'un filtre en guide d'ondes à modes évanescents
Marc Lecouve
,
Nicolas Boutheiller
,
Pierre Jarry
,
Eric Kerherve
,
François Marc
NUMELEC'2000, Conférence Européenne sur les Méthodes Numériques en Electromagnétisme, 2000, France. pp.102-103
Communication dans un congrès
hal-00181904v1
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CAD of evanescent mode waveguide filter with genetic algorithm optimization
Marc Lecouve
,
Nicolas Boutheiller
,
Pierre Jarry
,
Eric Kerherve
,
François Marc
IEEE Microwaves Symposium 2000, 2000, Maroc. pp.1
Communication dans un congrès
hal-00181905v1
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Critères de choix des méthodes et des techniques
M. Barre
,
François Marc
S.E.E. 4e atelier du cercle thématique 21-70 - Techniques d'analyse de défaillance des composants électroniques, 1994, France
Communication dans un congrès
hal-00181920v1
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Multiscaled simulation methodology for neuro-inspired circuits demonstrated with an organic memristor
Christopher Bennett
,
Jean-Etienne Lorival
,
François Marc
,
Théo Cabaret
,
Bruno Jousselme
,
et al.
Article dans une revue
cea-01656702v1
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Reliability-Aware Circuit Design Methodology for Beyond-5G Communication Systems
Chhandak Mukherjee
,
Bertrand Ardouin
,
Jean-Yves Dupuy
,
Virginie Nodjiadjim
,
Muriel Riet
,
et al.
Article dans une revue
hal-01670929v1
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La simulation de l'usure des circuits intégrés analogique : prise en compte de l'interaction fonction, profil de misssion, circuit
François Marc
,
Corinne Bestory
,
Herve Levi
,
Yves Danto
ANADEF2006, 2006, France. pp.1
Communication dans un congrès
hal-00181894v1
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Multi-level Modeling of hot carrier injection for reliability simulation using VHDL-AMS
Corinne Bestory
,
François Marc
,
Herve Levi
,
Yves Danto
Forum on Specification and Design Languages, 2006, Germany. pp.61-67
Communication dans un congrès
hal-00181895v1
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Modélisation comportementale et fiabilité des systèmes
François Marc
,
Benoit Mongellaz
,
Yves Danto
Journées électroniques du Club EEA : La fiabilité de microélectronique et microtechnologies, 2003, France. pp.1
Communication dans un congrès
hal-00181902v1
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Ultrasonic images interpretation improvement for microassembling technologies characterization
Laurent Bechou
,
Yves Ousten
,
Bernard Tregon
,
François Marc
,
Yves Danto
,
et al.
ESREF 97, 1997, France. pp.1
Communication dans un congrès
hal-00181907v1
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