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System Level Analysis and Accurate Prediction of Electromigration

 Tushar Gupta , Clément Bertolini , Olivier Héron , Nicolas Ventroux , Thomas Zimmer , et al.
European Workshop on CMOS Variability (VARI), May 2011, Grenoble, France. pp.1
Communication dans un congrès hal-00674319v1

Improvement of ageing simulation of electronic circuits based on behavioural modelling

 François Marc , Benoit Mongellaz , Corinne Bestory , Herve Levi , Yves Danto
IPFA 2005, 2005, Singapore. pp.195-199
Communication dans un congrès hal-00181897v1

Modèle Comportemental VHDL-AMS d'un Amplificateur CMOS à Transconductance: Application à la conception de filtres

 Benoit Mongellaz , Anne Schmitt , Noëlle Lewis , François Marc , Yves Danto
SETIT 2003, 2003, Tunisie. pp.1
Communication dans un congrès hal-00181901v1
Image document

A physical and versatile aging compact model for hot carrier degradation in SiGe HBTs under dynamic operating conditions

 C. Mukherjee , F. Marc , M. Couret , G.G. Fischer , M. Jaoul , et al.
Solid-State Electronics, 2020, 163, pp.107635. ⟨10.1016/j.sse.2019.107635⟩
Article dans une revue hal-02475429v1

Influence of temperature of storage, write and read operations on multiple level cells NAND flash memories

 Julien Coutet , Francois Marc , Flavien Dozolme , Romain Guétard , Aurélien Janvresse , et al.
Microelectronics Reliability, 2018, 88-90, pp.61-66. ⟨10.1016/j.microrel.2018.06.088⟩
Article dans une revue hal-01946449v1

Improvement of Aging Simulation of Electronic Circuits Using Behavioral Modeling

 François Marc , Benoit Mongellaz , Corinne Bestory , Herve Levi , Yves Danto
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2006, 1, pp.228-234
Article dans une revue hal-00181801v1

A general methodology using an electron beam tester applied to failure localization inside a logic integrated circuit

 François Marc , Hélène Fremont , Paul Jounet , M. Barre , Yves Danto
Microelectronic Engineering, 1995, 26, pp.181-193
Article dans une revue hal-00181885v1

Study of Degradations in PCB Interconnections for High Frequency Applications

 Geneviève Duchamp , Frédéric Verdier , Bruno Levrier , François Marc , Yves Ousten , et al.
IPFA 2005, 2005, Singapore. pp.253-257
Communication dans un congrès hal-00181898v1

Modélisation comportementale de la fiabilité des circuits intégrés complexes

 François Marc , Benoit Mongellaz , Yves Danto
RTP Fiabilité, 2004, France
Communication dans un congrès hal-00181918v1

Proceedings of 24th European Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis - ESREF 2013 (Special issue of Microelectronics Reliability, Vol. 53, Issues 9-11) (2013)

 Nathalie Labat , François Marc
Elsevier, pp.650, 2013
Ouvrages hal-00995849v1

Preliminary results of storage accelerated aging test on InP/GaAsSb DHBT

 Gilles Amadou Kone , S. Ghosh , Brice Grandchamp , Cristell Maneux , François Marc , et al.
International Conference on Indium Phosphide and Related Materials (IPRM 2011), May 2011, Berlin, Germany. pp.1
Communication dans un congrès hal-00585590v1

Thermal aging model of InP/InGaAs/InP DHBT

 S. Ghosh , F. Marc , C. Maneux , B. Grandchamp , G. A. Koné , et al.
Symposium on the Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, Oct 2010, gaeta, Italy. pp.1-4
Communication dans un congrès hal-01002465v1

Preliminary results of storage accelerated aging test on InP/InGaAs DHBT

 Gilles Amadou Koné , Brice Grandchamp , Cyril Hainaut , François Marc , Cristell Maneux , et al.
Microelectronics Reliability, 2010, 50, pp.1548-1553. ⟨10.1016/j.microrel.2010.07.141⟩
Article dans une revue istex hal-00585073v1

Ageing simulation of MOSFET circuit using a VHDL-AMS behavioural modelling: An experimental case study

 Benoit Mongellaz , François Marc , Yves Danto
Microelectronics Reliability, 2003, 43, pp.1
Article dans une revue hal-00181803v1

A CMOS Analogue Function VHDL-AMS Behavioral Ageing Model

 Benoit Mongellaz , François Marc , Corinne Bestory , Yves Danto
IEEE International Symposium on Industrial Electronics (ISIE) 2004, 2004, France. pp.1
Communication dans un congrès hal-00181899v1

Algorithme génétique adapté à la conception d'un filtre en guide d'ondes à modes évanescents

 Marc Lecouve , Nicolas Boutheiller , Pierre Jarry , Eric Kerherve , François Marc
NUMELEC'2000, Conférence Européenne sur les Méthodes Numériques en Electromagnétisme, 2000, France. pp.102-103
Communication dans un congrès hal-00181904v1

CAD of evanescent mode waveguide filter with genetic algorithm optimization

 Marc Lecouve , Nicolas Boutheiller , Pierre Jarry , Eric Kerherve , François Marc
IEEE Microwaves Symposium 2000, 2000, Maroc. pp.1
Communication dans un congrès hal-00181905v1

Critères de choix des méthodes et des techniques

 M. Barre , François Marc
S.E.E. 4e atelier du cercle thématique 21-70 - Techniques d'analyse de défaillance des composants électroniques, 1994, France
Communication dans un congrès hal-00181920v1

Investigation of the degradation mechanisms of InP/InGaAs DHBT under bias stress conditions to achieve electrical aging model for circuit design

 S. Ghosh , B. Grandchamp , G. A. Koné , F. Marc , C. Maneux , et al.
22th European Symposium on the RELIABILITY OF ELECTRON DEVICES, FAILURE PHYSICS AND ANALYSIS, Oct 2011, bordeaux, France. pp.1-4
Communication dans un congrès hal-01002192v1

Reliability of submicron InGaAs/InP DHBT on Accelerated Aging Tests under Thermal and Electrical stresses

 G. A. Koné , B. Grandchamp , C. Hainaut , F. Marc , C. Maneux , et al.
22th European Symposium on the RELIABILITY OF ELECTRON DEVICES, FAILURE PHYSICS AND ANALYSIS, Oct 2011, bordeaux, France. pp.1-4
Communication dans un congrès hal-01002459v1

Conception fiabilisée pour les circuits à nanodispositifs

 François Marc
Atelier du GDR Nanoélectronique / SOP-SIC - De la modélisation des nanodispositifs aux circuits innovants, Dec 2009, Bordeaux, France
Communication dans un congrès hal-00499488v1

FPGA LUT delay degradation due to HCI: Experiment and simulation results

 Mohammad Naouss , F. Marc
Microelectronics Reliability, 2016, 64, pp.31 - 35. ⟨10.1016/j.microrel.2016.07.048⟩
Article dans une revue hal-01661820v1

Practical implementation of reliability aware compact models in simulation software environnement

 Bertrand Ardouin , Zimmer Thomas , Jean-Yves Dupuy , Jean Godin , Virginie Nodjiadjim , et al.
Bipolar ArbeitsKreis, Nov 2017, Erfurt, Germany
Communication dans un congrès hal-02511647v1
Image document

Long term accelerated ageing of an ASIC dedicated to cryptographic application

 Julien Coutet , Emmanuel Doche , Romain Guétard , Aurélien Janvresse , Suzel Lavagne , et al.
Microelectronics Reliability, 2019, 100-101, pp.113442. ⟨10.1016/j.microrel.2019.113442⟩
Article dans une revue hal-02394907v1

Reliability Aware ArchC based Processor Simulator

 Tushar Gupta , Clément Bertolini , Olivier Héron , Nicolas Ventroux , Thomas Zimmer , et al.
IEEE Int. Integrated Reliability Workshop Final Report (IRW), Oct 2010, lake Tahoe, United States. pp.1
Communication dans un congrès hal-00674316v1

Reliability-Aware Circuit Design Methodology for Beyond-5G Communication Systems

 Chhandak Mukherjee , Bertrand Ardouin , Jean-Yves Dupuy , Virginie Nodjiadjim , Muriel Riet , et al.
IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2017, 17 (3), pp.490 - 506. ⟨10.1109/TDMR.2017.2710303⟩
Article dans une revue hal-01670929v1

La simulation de l'usure des circuits intégrés analogique : prise en compte de l'interaction fonction, profil de misssion, circuit

 François Marc , Corinne Bestory , Herve Levi , Yves Danto
ANADEF2006, 2006, France. pp.1
Communication dans un congrès hal-00181894v1

Multi-level Modeling of hot carrier injection for reliability simulation using VHDL-AMS

 Corinne Bestory , François Marc , Herve Levi , Yves Danto
Forum on Specification and Design Languages, 2006, Germany. pp.61-67
Communication dans un congrès hal-00181895v1

Modélisation comportementale et fiabilité des systèmes

 François Marc , Benoit Mongellaz , Yves Danto
Journées électroniques du Club EEA : La fiabilité de microélectronique et microtechnologies, 2003, France. pp.1
Communication dans un congrès hal-00181902v1

Ultrasonic images interpretation improvement for microassembling technologies characterization

 Laurent Bechou , Yves Ousten , Bernard Tregon , François Marc , Yves Danto , et al.
ESREF 97, 1997, France. pp.1
Communication dans un congrès hal-00181907v1
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