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Frédéric Houzé

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	Wide range local resistance imaging on fragile materials by conducting probe atomic force microscopy in intermittent contact mode Aymeric Vecchiola , Pascal Chrétien , Sophie Delprat , Karim Bouzehouane , Olivier Schneegans Applied Physics Letters, 2016, 108, pp.243101. ⟨10.1063/1.4953870⟩ Article dans une revue cea-01331971v1
	Techniques de mesure de grandeurs électriques adaptées aux nano-circuits Brice Gautier , Pascal Chrétien , Khalifa Aguir , Frédéric Houzé , Olivier Schneegans Les Techniques de l'Ingenieur, 2016, Mesures-Analyses / Mesures et tests électroniques, pp.R1084 V1. ⟨10.51257/a-v1-r1084⟩ Article dans une revue hal-01432552v1
	Specific methodology for capacitance imaging by atomic force microscopy: A breakthrough towards an elimination of parasitic effects Ivan Estevez , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frédéric Houzé Applied Physics Letters, 2014, 104 (8), pp.083108. ⟨10.1063/1.4866607⟩ Article dans une revue hal-01093500v1
	Influence of morphology on the conductance of single-crystal diamond surfaces measured by atomic force microscopy Erwan Tranvouez , E. Boer-Duchemin , A.J. Mayne , T. Vanderbruggen , M. Scheele Journal of Applied Physics, 2009, 106 (5), pp. 054301-1 054301-7 Article dans une revue hal-00444497v1
	Capacitance measurements on small parallel plate capacitors using nanoscale impedance microscopy Olivier Schneegans , Frédéric Houzé , Pascal Chrétien , René Meyer Applied Physics Letters, 2007, 90, pp.043116 Article dans une revue hal-00320357v1
	Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe atomic force microscopy in contact mode Frédéric Houzé , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , René Meyer , Lionel Boyer Applied Physics Letters, 2005, 86, pp.123103 Article dans une revue hal-00320223v1
	“ Copper sample analyzed with an n-doped silicon tip using conducting probe atomic force microscopy Olivier Schneegans , Lionel Boyer , Frédéric Houzé , René Meyer , Pascal Chrétien Journal of Vacuum Science and Technology, 2002, 20, pp.1929 Article dans une revue hal-00098202v1

	Local resistance imaging on soft materials by conducting probe atomic force microscopy in intermittent contact mode Aymeric Vecchiola , Pascal Chrétien , Karim Bouzehouane , Olivier Schneegans , Pierre Seneor NanoMetrology 2016, Jun 2016, Paris, France. pp.126 Communication dans un congrès hal-01320255v1
	Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent Aymeric Vecchiola , Pascal Chrétien , Karim Bouzehouane , Olivier Schneegans , Pierre Seneor 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France Communication dans un congrès hal-01317747v1
	Avancées récentes sur les mesures de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en contact intermittent Aymeric Vecchiola , Frédéric Houzé , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans 17e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2014, Montauban, France. pp.114 - 115 Communication dans un congrès hal-01093608v1
	Imagerie de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en mode contact intermittent Aymeric Vecchiola , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frédéric Houzé NANORGASOL 2013, Nov 2013, Mèze, France. pp.14 Communication dans un congrès hal-00927019v1
	Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent Aymeric Vecchiola , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frédéric Houzé , Karim Bouzehouane Journées Nationales en Nanosciences et Nanotechnologies J3N 2013, Nov 2013, Marseille, France Communication dans un congrès hal-00927020v1
	Développement d'une imagerie de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en mode contact intermittent Aymeric Vecchiola , Olivier Schneegans , Pascal Chrétien , Frédéric Houzé Forum 2013 des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2013, Spa, Belgique. pp.124-125 Communication dans un congrès hal-00927018v1
	Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent Pascal Chrétien , Aymeric Vecchiola , Olivier Schneegans , Frédéric Houzé , Karim Bouzehouane Journées Nationales en Nanosciences et Nanotechnologies- J3N2012, Nov 2012, Bordeaux, France Communication dans un congrès hal-00778776v1
	Optimisation de la mesure de capacité électrique locale absolue par AFM à sonde conductrice Ivan Estevez , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frédéric Houzé 14e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2011, Ecully, France. pp.87 Communication dans un congrès hal-00710620v1
	Avancées successives sur la mesure de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frédéric Houzé Forum 2009 des microscopies à sonde locale, Mar 2009, Hardelot, France. pp. 94-95 Communication dans un congrès hal-00445404v1
	Mesures de capacité absolue par AFM à pointe conductrice Ivan Estevez , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frédéric Houzé Forum 2009 des microscopies à sonde locale, Mar 2009, Hardelot, France. pp. 56-57 Communication dans un congrès hal-00445402v1
	Mesures de capacité absolue par AFM à pointe conductrice: problématique et avancées récentes Ivan Estevez , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frédéric Houzé Journées du GDR Micro Nano Systèmes, Dec 2008, Montpellier, France Communication dans un congrès hal-00353331v1
	The Resiscope module for DC conductivity measurements by AFM : an overview of performances and some various applications Pascal Chrétien , Ivan Estevez , Olivier Schneegans , Frédéric Houzé International SPM Usermeeting, May 2008, Barcelone, Spain. pp.CD-ROM Proceedings Communication dans un congrès hal-00351356v1
	Mesures de capacités plan/plan dans la gamme 1pF-1fF : mise en évidence des effets de bord, proposition d'un modèle et confrontation à des simulations numériques Olivier Schneegans , Frédéric Houzé , Pascal Chrétien Réunion Annuelle VEECO des Utilisateurs d'AFM, 2006, France Communication dans un congrès hal-00320315v1
	Caractérisation de profils de dopage par imagerie de résistance locale à faible force Frédéric Houzé , D. Mariolle , F. Bertin , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans 8ème Forum des Microscopies à Sonde Locale, 2005, France Communication dans un congrès hal-00320231v1
	Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe AFM in contact mode Pascal Chrétien , Frédéric Houzé , Olivier Schneegans , René Meyer , Lionel Boyer Xtip'05, 2005, France Communication dans un congrès hal-00320256v1
	Simultaneous height, resistance and capacitance cartography of a SRAM test sample by conducting probe AFM Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frédéric Houzé , René Meyer , Lionel Boyer Seing at the Nanoscale II, 2004, France Communication dans un congrès hal-00320180v1

	Formation de matière sur des surfaces imagées par AFM en mode intermittent : un artefact inattendu Aymeric Vecchiola , Pascal Chrétien , Noelle Gogneau , Karim Bouzehouane , Olivier Schneegans 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. Actes du 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale Poster de conférence hal-01317764v1
	Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent Aymeric Vecchiola , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frédéric Houzé , Karim Bouzehouane Journées Nationales Nanosciences et Nanotechnologies (J3N 2014), Nov 2014, Lyon, France Poster de conférence hal-01338861v1

	Appareil de mesure de la résistance électrique locale d'une surface Olivier Schneegans , Pascal Chrétien , Frédéric Houzé N° de brevet: PCT/IB2011/051951. 2011 Brevet hal-00715270v1
	Appareil de mesure de la résistance électrique locale d'une surface Olivier Schneegans , Pascal Chrétien , Frédéric Houzé France, N° de brevet: FR 10 01940. 2010 Brevet hal-00557019v1

	Transfert de savoir-faire pour la mise en forme, la fabrication et la mise sur le marché du Résiscope Pascal Chrétien , Frédéric Houzé , Olivier Schneegans 2007 Autre publication scientifique hal-00320405v1
	Améliorations apportées au dispositif de mesure rapide de courant et de résistance électrique pouvant varier sur plusieurs décades Pascal Chrétien , Frédéric Houzé , Olivier Schneegans , René Meyer , Lionel Boyer 2006 Autre publication scientifique hal-00320345v1