Skip to Main content

Co-authors

Number of documents

56

Frédéric Houzé


Pascal Chrétien   

Journal articles12 documents

  • Nicoletta Jegenyes, Martina Morassi, Pascal Chrétien, Laurent Travers, L Lu, et al.. High piezoelectric conversion properties of axial InGaN/GaN nanowires. Nanomaterials, MDPI, 2018, 8 (6), pp.367. ⟨10.3390/nano8060367⟩. ⟨hal-01798270⟩
  • Nicolas Jamond, Pascal Chrétien, Lina Gatilova, Elisabeth Galopin, Laurent Travers, et al.. Energy harvesting efficiency in GaN nanowire-based nanogenerators: the critical influence of the Schottky nanocontact. Nanoscale, Royal Society of Chemistry, 2017, 9 (13), pp.4610 - 4619. ⟨10.1039/c7nr00647k⟩. ⟨hal-01501840⟩
  • Brice Gautier, Pascal Chrétien, Khalifa Aguir, Frédéric Houzé, Olivier Schneegans, et al.. Techniques de mesure de grandeurs électriques adaptées aux nano-circuits. Les Techniques de l'Ingenieur, Editions T.I., 2016, Mesures-Analyses / Mesures et tests électroniques pp.R1084 V1. ⟨hal-01432552⟩
  • Noëlle Gogneau, Nicolas Jamond, Pascal Chrétien, Frédéric Houzé, Elie Lefeuvre, et al.. From single III-nitride nanowires to piezoelectric generators: New route for powering nomad electronics. Semiconductor Science and Technology, IOP Publishing, 2016, 31, pp.103002. ⟨10.1088/0268-1242/31/10/103002⟩. ⟨hal-01390955⟩
  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Sophie Delprat, Karim Bouzehouane, Olivier Schneegans, et al.. Wide range local resistance imaging on fragile materials by conducting probe atomic force microscopy in intermittent contact mode. Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2016, 108, pp.243101. ⟨10.1063/1.4953870⟩. ⟨cea-01331971⟩
  • Ivan Estevez, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. Specific methodology for capacitance imaging by atomic force microscopy: A breakthrough towards an elimination of parasitic effects. Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2014, 104 (8), pp.083108. ⟨10.1063/1.4866607⟩. ⟨hal-01093500⟩
  • Noelle Gogneau, Pascal Chrétien, Elisabeth Galopin, Stephane Guilet, Laurent Travers, et al.. GaN nanowires for piezoelectric generators. physica status solidi (RRL) - Rapid Research Letters, Wiley-VCH Verlag, 2014, 8 (5), pp.414-419. ⟨10.1002/pssr.201409105⟩. ⟨hal-01093504⟩
  • Noelle Gogneau, Pascal Chrétien, Elisabeth Galopin, Stephane Guilet, Laurent Travers, et al.. Impact of the GaN nanowire polarity on energy harvesting. Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2014, 104 (21), pp.213105. ⟨10.1063/1.4880101⟩. ⟨hal-01096617⟩
  • Erwan Tranvouez, E. Boer-Duchemin, A.J. Mayne, T. Vanderbruggen, M. Scheele, et al.. Influence of morphology on the conductance of single-crystal diamond surfaces measured by atomic force microscopy. Journal of Applied Physics, American Institute of Physics, 2009, 106 (5), pp. 054301-1 054301-7. ⟨hal-00444497⟩
  • Olivier Schneegans, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, René Meyer. Capacitance measurements on small parallel plate capacitors using nanoscale impedance microscopy. Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2007, 90, pp.043116. ⟨hal-00320357⟩
  • Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, René Meyer, Lionel Boyer. Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe atomic force microscopy in contact mode. Applied Physics Letters, American Institute of Physics, 2005, 86, pp.123103. ⟨hal-00320223⟩
  • Olivier Schneegans, Lionel Boyer, Frédéric Houzé, René Meyer, Pascal Chrétien. “ Copper sample analyzed with an n-doped silicon tip using conducting probe atomic force microscopy. Journal of Vacuum Science and Technology B, 2002, 20, pp.1929. ⟨hal-00098202⟩

Conference papers36 documents

  • Nataliya Kalashnyk, Sophie Noël, Pascal Chrétien, Aurore Brézard-Oudot, Thierry Leblanc, et al.. Printed copper connections on flexible substrates. 65th IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Sep 2019, Milwaukee, United States. pp.350-358. ⟨hal-02154088⟩
  • Tanbir Sodhi, Pascal Chrétien, Nicolas Jamond, Noëlle Gogneau, Frédéric Houzé. Apport de l'AFM à pointe conductrice pour la caractérisation des performances de piézo-génération de nanofils GaN. 22ème Forum des Microscopies à Sondes Locales, Mar 2019, Carry-le-Rouet, France. pp.167. ⟨hal-02152858⟩
  • Tanbir Sodhi, Pascal Chrétien, Martina Morassi, Laurent Travers, Lu Lu, et al.. Piezoelectric properties of GaN Nanowires: Effect of their conductivity. Journées Nationales des Nanofils semiconducteurs - J2N 2019, Nov 2019, Lyon, France. ⟨hal-02337953⟩
  • Noëlle Gogneau, Pascal Chrétien, Martina Morassi, Tanbir Sodhi, Laurent Travers, et al.. Piezoelectric properties of axial InGaN/GaN Nanowires. Journées Nationales des Nanofils semiconducteurs - J2N 2019, Nov 2019, Lyon, France. ⟨hal-02337971⟩
  • Junkang Wang, Lu Lu, Tanbir Sodhi, Pascal Chrétien, Frédéric Houzé, et al.. Piezoelectric energy nanoharvester based on vertically-aligned GaN nanowires. Nanowire Week 2019, Sep 2019, Pise, Italy. ⟨hal-02337899⟩
  • Noelle Gogneau, Pascal Chrétien, Nicolas Jamond, L Lu, Nicoletta Jegenyes, et al.. GaN nanowires based piezoelectric generators. 13th International Conference on Nitride Semiconductors - ICNS13, Jul 2019, Bellevue, United States. ⟨hal-02154041⟩
  • Noëlle Gogneau, Pascal Chrétien, Martina Morassi, Nicoletta Jegenyes, Laetitia Leroy, et al.. Characterization of the piezoelectric-conversion properties of III-Nitride nanowires by conducting probe atomic force microscopy in intermittent contact mode. 4th International Conference on Nanogenerators and Piezotronics (NGPT2018), May 2018, Seoul, South Korea. ⟨hal-01798287⟩
  • Nicolas Jamond, Pascal Chrétien, Lina Gatilova, Elizabeth Galopin, Laurent Travers, et al.. Energy harvesting efficiency in GaN nanowires based nanogenerators: the critical influence of the Schottky nanocontact. 4th International Conference on Nanogenerators and Piezotronics (NGPT2018), May 2018, Seoul, South Korea. ⟨hal-01798304⟩
  • L. Lu, N. Jamond, E. Lefeuvre, Pascal Chrétien, F. Houzé, et al.. High Sensitivity Piezogenerator Based on GaN Nanowires. Eurosensors 2017, Sep 2017, Paris, France. pp.587, ⟨10.3390/proceedings1040587⟩. ⟨hal-01591362⟩
  • Nicoletta Jegenyes, Martina Morassi, Pascal Chrétien, Laurent Travers, L Lu, et al.. Piezoelectric conversion with InGaN/GaN nanowire heterostructures. 12th International Conference on Nitride Semiconductors - ICNS 12, Jul 2017, Strasbourg, France. ⟨hal-01591417⟩
  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Karim Bouzehouane, Olivier Schneegans, Pierre Seneor, et al.. Local resistance imaging on soft materials by conducting probe atomic force microscopy in intermittent contact mode. NanoMetrology 2016, Jun 2016, Paris, France. pp.126. ⟨hal-01320255⟩
  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Karim Bouzehouane, Olivier Schneegans, Pierre Seneor, et al.. Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent. 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. ⟨hal-01317747⟩
  • Kevin Dalla-Francesca, Sophie Noël, David Brunel, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, et al.. Soft ultrasonic exfoliation of multilayer graphene for an application to electrical contacts. 28th International Conference on Electric Contacts (ICEC2016), Jun 2016, Edinburgh, United Kingdom. pp.225-230. ⟨hal-01332540⟩
  • Pascal Chrétien, Sophie Noël, Alexandre Jaffré, Frédéric Houzé, David Brunel, et al.. Electrical and structural mapping of friction induced defects in graphene layers. 62nd IEEE Holm Conference on Electrical Contacts, Oct 2016, Clearwater Beach, United States. pp.72-79, ⟨10.1109/holm.2016.7780010⟩. ⟨hal-01332589⟩
  • L. Lu, N. Jamond, Pascal Chrétien, F. Houzé, L. Travers, et al.. Nitride Nanowires: From Rigid to Flexible Piezo-generators. PowerMEMS 2016, Dec 2016, Paris, France. ⟨10.1088/1742-6596/773/1/012010⟩. ⟨hal-01653358⟩
  • Noelle Gogneau, Nicolas Jamond, Pascal Chrétien, Frédéric Houzé, Elisabeth Galopin, et al.. GaN nanowires for piezoelectric energy harvesting : Towards wireless sensors. Energy Materials Nanotechnology (EMN) Spring Meeting 2016, Mar 2016, Taipei, Taiwan. ⟨hal-01315747⟩
  • Noëlle Gogneau, Nicolas Jamond, Laurent Travers, Jean-Christophe Harmand, Frank Glas, et al.. Piezo-Generator Integrating Vertical Array of GaN Nanowires: A new alternative energy source for nomad electronics. WTE 2016, Oct 2016, Paris-Saclay, France. ⟨hal-01631168⟩
  • Nicolas Jamond, Laurent Travers, Franck Glas, Noelle Gogneau, Pascal Chrétien, et al.. GaN nanowires based piezogenerator - Investigation of the GaN nanowires potentiality for the development of piezogenerators . Cinquièmes Journées Nationales sur la Récupération et le Stockage d'Energie , May 2015, Orsay, France. pp.21-22. ⟨hal-01258276⟩
  • Aymeric Vecchiola, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans. Avancées récentes sur les mesures de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en contact intermittent. 17e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2014, Montauban, France. pp.114 - 115. ⟨hal-01093608⟩
  • Kevin Dalla-Francesca, Sophie Noël, Aymeric Vecchiola, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, et al.. Electrical characterization of graphene-like films at microscopic and macroscopic scale. IEEE Holm 2014, Oct 2014, New Orleans, United States. pp.116-123. ⟨hal-01099230⟩
  • N. Jamond, Pascal Chrétien, E. Galopin, L. Travers, J.C. Harmand, et al.. Piezoelectric Potential of GaN Nanowires: Towards Efficient Output Piezo-generators. Atelier Nucléation Croissance et Surfaces Hétérogènes du GDR PULSE (Processus ULtimes en épitaxie de SEmiconducteurs), Apr 2014, Valbonne, France. ⟨hal-01099228⟩
  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. Imagerie de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en mode contact intermittent. NANORGASOL 2013, Nov 2013, Mèze, France. pp.14. ⟨hal-00927019⟩
  • Aymeric Vecchiola, Olivier Schneegans, Pascal Chrétien, Frédéric Houzé. Développement d'une imagerie de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice en mode contact intermittent. Forum 2013 des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2013, Spa, Belgique. pp.124-125. ⟨hal-00927018⟩
  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé, Karim Bouzehouane, et al.. Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent. Journées Nationales en Nanosciences et Nanotechnologies J3N 2013, Nov 2013, Marseille, France. ⟨hal-00927020⟩
  • Pascal Chrétien, Aymeric Vecchiola, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé, Karim Bouzehouane, et al.. Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent. Journées Nationales en Nanosciences et Nanotechnologies- J3N2012, Nov 2012, Bordeaux, France. ⟨hal-00778776⟩
  • Ivan Estevez, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. Optimisation de la mesure de capacité électrique locale absolue par AFM à sonde conductrice. 14e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2011, Ecully, France. pp.87. ⟨hal-00710620⟩
  • Ivan Estevez, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. Mesures de capacité absolue par AFM à pointe conductrice. Forum 2009 des microscopies à sonde locale, Mar 2009, Hardelot, France. pp. 56-57. ⟨hal-00445402⟩
  • Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. Avancées successives sur la mesure de résistance électrique locale par AFM à pointe conductrice. Forum 2009 des microscopies à sonde locale, Mar 2009, Hardelot, France. pp. 94-95. ⟨hal-00445404⟩
  • Ivan Estevez, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. Mesures de capacité absolue par AFM à pointe conductrice: problématique et avancées récentes. Journées du GDR Micro Nano Systèmes, Dec 2008, Montpellier, France. ⟨hal-00353331⟩
  • Pascal Chrétien, Ivan Estevez, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé. The Resiscope module for DC conductivity measurements by AFM : an overview of performances and some various applications. International SPM Usermeeting, May 2008, Barcelone, Spain. pp.CD-ROM Proceedings. ⟨hal-00351356⟩
  • Olivier Schneegans, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien. Mesures de capacités plan/plan dans la gamme 1pF-1fF : mise en évidence des effets de bord, proposition d'un modèle et confrontation à des simulations numériques. Réunion Annuelle VEECO des Utilisateurs d'AFM, 2006, France. ⟨hal-00320315⟩
  • José Alvarez, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, Jean-Paul Kleider, C. Bazin, et al.. Local photoconductivity on Schottky diamond photodetectors measured by conducting probe atomic force microscopy. Diamond' 2006 (17th European Conference on Diamond, Diamond-Like Materials, Carbon Nanotubes and Nitrides), 2006, Portugal. ⟨hal-00320301⟩
  • José Alvarez, Jean-Paul Kleider, Frédéric Houzé, Pascal Chrétien, M. Liao, et al.. Mesures locales de photoconductivité par AFM à pointe conductrice sur des dispositifs métal-semiconducteur-métal à base de diamant. Réunion Annuelle VEECO des Utilisateurs d'AFM, 2006, France. ⟨hal-00320320⟩
  • Frédéric Houzé, D. Mariolle, F. Bertin, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans. Caractérisation de profils de dopage par imagerie de résistance locale à faible force. 8ème Forum des Microscopies à Sonde Locale, 2005, France. ⟨hal-00320231⟩
  • Pascal Chrétien, Frédéric Houzé, Olivier Schneegans, René Meyer, Lionel Boyer. Simultaneous resistance and capacitance cartography by conducting probe AFM in contact mode. Xtip'05, 2005, France. ⟨hal-00320256⟩
  • Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé, René Meyer, Lionel Boyer. Simultaneous height, resistance and capacitance cartography of a SRAM test sample by conducting probe AFM. Seing at the Nanoscale II, 2004, France. ⟨hal-00320180⟩

Poster communications4 documents

  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Noelle Gogneau, Karim Bouzehouane, Olivier Schneegans, et al.. Formation de matière sur des surfaces imagées par AFM en mode intermittent : un artefact inattendu. 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France. Actes du 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale. ⟨hal-01317764⟩
  • Nicolas Jamond, Pascal Chrétien, Frédéric Houzé, Laurent Travers, Franck Glas, et al.. GaN nanowires based piezogenerator . Nanowires 2015, Oct 2015, Barcelone, Spain. pp.110, Nanowires 2015 - Book of Abstracts - Poster Sessions. ⟨hal-01258198⟩
  • Aymeric Vecchiola, Pascal Chrétien, Olivier Schneegans, Frédéric Houzé, Karim Bouzehouane, et al.. Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent. Journées Nationales Nanosciences et Nanotechnologies (J3N 2014), Nov 2014, Lyon, France. ⟨hal-01338861⟩
  • Nicolas Jamond, Pascal Chrétien, L Largeau, Olivia Mauguin, Elisabeth Galopin, et al.. Effect of the AlN interfacial layer on the piezoelectric properties of GaN nanowires. Réunion plénière des GDR PULSE (Processus ULtimes en épitaxie de SEmiconducteurs) et NNS (NanoFils, Nanotubes, Semiconducteurs), Oct 2014, Toulouse, France. ⟨hal-01338879⟩

Patents2 documents

  • Olivier Schneegans, Pascal Chrétien, Frédéric Houzé. Appareil de mesure de la résistance électrique locale d'une surface. N° de brevet: PCT/IB2011/051951. 2011. ⟨hal-00715270⟩
  • Olivier Schneegans, Pascal Chrétien, Frédéric Houzé. Appareil de mesure de la résistance électrique locale d'une surface. France, N° de brevet: FR 10 01940. 2010. ⟨hal-00557019⟩

Other publications2 documents

  • Pascal Chrétien, Frédéric Houzé, Olivier Schneegans. Transfert de savoir-faire pour la mise en forme, la fabrication et la mise sur le marché du Résiscope. 2007. ⟨hal-00320405⟩
  • Pascal Chrétien, Frédéric Houzé, Olivier Schneegans, René Meyer, Lionel Boyer. Améliorations apportées au dispositif de mesure rapide de courant et de résistance électrique pouvant varier sur plusieurs décades. 2006. ⟨hal-00320345⟩