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	Wide range local resistance imaging on fragile materials by conducting probe atomic force microscopy in intermittent contact mode Aymeric Vecchiola , Pascal Chrétien , Sophie Delprat , Karim Bouzehouane , Olivier Schneegans Applied Physics Letters, 2016, 108, pp.243101. ⟨10.1063/1.4953870⟩ Article dans une revue cea-01331971v1

	Local resistance imaging on soft materials by conducting probe atomic force microscopy in intermittent contact mode Aymeric Vecchiola , Pascal Chrétien , Karim Bouzehouane , Olivier Schneegans , Pierre Seneor NanoMetrology 2016, Jun 2016, Paris, France. pp.126 Communication dans un congrès hal-01320255v1
	Imagerie de résistance électrique locale sur matériaux fragiles par microscopie à force atomique à pointe conductrice en mode contact intermittent Aymeric Vecchiola , Pascal Chrétien , Karim Bouzehouane , Olivier Schneegans , Pierre Seneor 19e Forum des Microscopies à Sonde Locale, Mar 2016, Sochaux-Montbéliard, France Communication dans un congrès hal-01317747v1
	Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent Aymeric Vecchiola , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frédéric Houzé , Karim Bouzehouane Journées Nationales en Nanosciences et Nanotechnologies J3N 2013, Nov 2013, Marseille, France Communication dans un congrès hal-00927020v1
	Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent Pascal Chrétien , Aymeric Vecchiola , Olivier Schneegans , Frédéric Houzé , Karim Bouzehouane Journées Nationales en Nanosciences et Nanotechnologies- J3N2012, Nov 2012, Bordeaux, France Communication dans un congrès hal-00778776v1

	Mesures électriques locales par AFM en mode intermittent Aymeric Vecchiola , Pascal Chrétien , Olivier Schneegans , Frédéric Houzé , Karim Bouzehouane Journées Nationales Nanosciences et Nanotechnologies (J3N 2014), Nov 2014, Lyon, France Poster de conférence hal-01338861v1

Frédéric Houzé