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		MODELING OF BUNDLE WITH RADIATED LOSSES FOR BCI TESTING Fabrice Duval , Bélhacène Mazari , Olivier Maurice , F. Fouquet , Anne Louis , et al. 3rd International Workshop on Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits, Nov 2002, Toulouse, France. pp. 27-30 Communication dans un congrès hal-00517762v1	Envoyer sur ORCID Exporter BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite Export avancé Partager Gmail Facebook X LinkedIn More
		Experimental study of 600V GaN transistor under the short-circuit aging tests J-Z. Fu , F. Fouquet , M. Kadi , Pascal Dherbécourt 2018 19th IEEE Mediterranean Electrotechnical Conference (MELECON), May 2018, Marrakech, France. pp.249-253, ⟨10.1109/MELCON.2018.8379102⟩ Communication dans un congrès hal-02181678v1	Envoyer sur ORCID Exporter BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite Export avancé Partager Gmail Facebook X LinkedIn More
		Gate Oxide Degradation of SiC MOSFET under Short-Circuit Aging Tests S. Mbarek , F. Fouquet , Pascal Dherbécourt , Mohamed Lamine Masmoudi , O. Latry Microelectronics Reliability, 2016, 64, pp.415-418. ⟨10.1016/j.microrel.2016.07.132⟩ Article dans une revue hal-01954256v1	Envoyer sur ORCID Exporter BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite Export avancé Partager Gmail Facebook X LinkedIn More
		Etude du fonctionnement d'une chamber réverbérante en presence d'objets absorbants Habib Boulzazen , François Fouquet , Alain Reineix 16ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité Electromagnétique - CEM 2012, Apr 2012, Rouen, France. pp.Sessions 6B Communication dans un congrès hal-00776204v1	Envoyer sur ORCID Exporter BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite Export avancé Partager Gmail Facebook X LinkedIn More
		Electrical predictive model of Zener diode under pulsed EOS F. Zhu , M. Kadi , François Fouquet , B. Ravelo Electronics Letters, 2015, 51 (4), pp.327-328. ⟨10.1049/el.2014.4311⟩ Article dans une revue hal-02407347v1	Envoyer sur ORCID Exporter BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite Export avancé Partager Gmail Facebook X LinkedIn More
		Etude de la Robustesse et des Mécanismes de défaillance d’un transistor MOSFET en SiC sous contraintes électriques et thermiques Mbarek Safa , Pascal Dherbécourt , François Fouquet , Olivier Latry Télécom & JFMMA, 2015, Meknès, Maroc Communication dans un congrès hal-02407378v1	Envoyer sur ORCID Exporter BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite Export avancé Partager Gmail Facebook X LinkedIn More
		Experimental investigation of Zener diode reliability under pulsed Electrical Overstress (EOS) F. Zhu , F. Fouquet , B. Ravelo , A. Alaeddine , Moncef Kadi Microelectronics Reliability, 2013, 53 (9-11), pp.1288-1292. ⟨10.1016/j.microrel.2013.07.077⟩ Article dans une revue hal-02306929v1	Envoyer sur ORCID Exporter BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite Export avancé Partager Gmail Facebook X LinkedIn More
		Evolution of C-V and I-V characteristics for a commercial 600 V GaN GIT power device under repetitive short-circuit tests J.Z. Fu , F. Fouquet , M. Kadi , Pascal Dherbécourt Microelectronics Reliability, 2018, 88-90, pp.652-655. ⟨10.1016/j.microrel.2018.06.034⟩ Article dans une revue hal-02181673v1	Envoyer sur ORCID Exporter BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite Export avancé Partager Gmail Facebook X LinkedIn More
		Le bruit en électronique radiofréquence et sa mesure François Fouquet ISTE Editions, 2019, 9781784056186 Ouvrages hal-02407366v1	Envoyer sur ORCID Exporter BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite Export avancé Partager Gmail Facebook X LinkedIn More
		Behavoir study of a 600v gan transistor under short-circuit experimental test Jian Zhi Fu , Francois Fouquet , Moncef Kadi , Pascal Dherbécourt TELECOM 2017 et 10ème JFMMA, May 2017, Rabat, Morocco Communication dans un congrès hal-02310344v1	Envoyer sur ORCID Exporter BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite Export avancé Partager Gmail Facebook X LinkedIn More
		Short-circuit robustness test and in depth microstructural analysis study of SiC MOSFET S. Mbarek , Pascal Dherbécourt , O. Latry , F. Fouquet Microelectronics Reliability, 2017, 76-77, pp.527 - 531. ⟨10.1016/j.microrel.2017.07.002⟩ Article dans une revue hal-01766126v1	Envoyer sur ORCID Exporter BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite Export avancé Partager Gmail Facebook X LinkedIn More
		Robustness Study of SiC MOSFET Under Harsh Electrical and Thermal Constraints Mbarek Safa , Pascal Dherbécourt , O. Latry , Francois Fouquet , Othman Dhouha , et al. CENICS, 2014, Lisbonne, Portugal Communication dans un congrès hal-01700474v1	Envoyer sur ORCID Exporter BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite Export avancé Partager Gmail Facebook X LinkedIn More
		Experimental and microscopic analysis of 600V GaN-GIT under the short-circuit aging tests Jian Zhi Fu , François Fouquet , Moncef Kadi , Pascal Dherbécourt , Fabien Cuvilly International Journal of Information Science & Technology, 2019 Article dans une revue hal-02295904v1	Envoyer sur ORCID Exporter BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite Export avancé Partager Gmail Facebook X LinkedIn More
		PHM method for detecting degradation of GaN HEMT ON resistance, application to power converter H. Boulzazen , Chawki Douzi , Eric Joubert , Pascal Dherbécourt , Moncef Kadi , et al. e-Prime – Advances in Electrical Engineering, Electronics and Energy, 2022, 2, pp.100060. ⟨10.1016/j.prime.2022.100060⟩ Article dans une revue hal-03872112v1	Envoyer sur ORCID Exporter BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite Export avancé Partager Gmail Facebook X LinkedIn More
		Aging of GaN GIT under repetitive short-circuit tests J-Z. Fu , F. Fouquet , Moncef Kadi , Pascal Dherbécourt 2018 1st Workshop on Wide Bandgap Power Devices and Applications in Asia (WiPDA Asia), May 2018, Xi'an, China. pp.189-193, ⟨10.1109/WiPDAAsia.2018.8734539⟩ Communication dans un congrès hal-02306848v1	Envoyer sur ORCID Exporter BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite Export avancé Partager Gmail Facebook X LinkedIn More