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Réalisation d'une alimentation DC 3,3V sans pile avec récupération d'énergie photovoltaïque et stockage sur supercapacités pour l'alimentation d'un capteur sans fil basse consommation

 Lionel Séguier , Vincent Boitier , Florian Huet , Jean-Marie Dilhac , Fabrice Caignet
La Revue 3E.I, 2020, 101, pp.13-24
Article dans une revue hal-02651454v1

The impacts of EMC/ESD on embedded systems: a challenge for safe systems achievement.

 Genevieve Duchamp , Fabrice Caignet
ESREF 2017, Sep 2017, Bordeaux, France
Communication dans un congrès hal-01719890v1
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New Measurement Method to Investigated Service Life of Protection Networks exposed to ESD

 François Ruffat , Fabrice Caignet , Alexandre Boyer , Fabien Escudié , Guillaume Mejecaze , et al.
Microelectronics Reliability, 2022, 33rd European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis, ⟨10.1016/j.microrel.2022.114661⟩
Article dans une revue hal-03788175v1
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METHODE DE PRE-SCAN POUR ACCELERER LES TEMPS DE MESURE DU SCAN CHAMP PROCHE EN IMMUNITE

 Alexandre Boyer , Fabrice Caignet
21ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2023), Jun 2023, Toulouse, France
Communication dans un congrès hal-04203229v1

Investigation on ESD Transient Immunity of Integrated Circuit

 Nicolas Lacrampe , Ali Alaeldine , Fabrice Caignet , Richard Perdriau , Marise Bafleur , et al.
IEEE EMC 2007 International Symposium on Electromagnetic Compatibility, Jul 2007, Honolulu (Hawaii), United States
Communication dans un congrès hal-00239408v1

ESD Protection Methodologies: From Component to System

 Marise Bafleur , Fabrice Caignet , Nicolas Nolhier
Elsevier, 284p., 2017, 978-1-78548-122-2
Ouvrages hal-01613901v1
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Closed-Form Expressions of Electric and Magnetic Near-Fields for the Calibration of Near-Field Probes

 Alexandre Boyer , Nicolas Nolhier , Fabrice Caignet , Sonia Ben Dhia
IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, 2021, 70, ⟨10.1109/TIM.2021.3126376⟩
Article dans une revue hal-03423272v1
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Correlation between Near-Field Scan Immunity and Radiated Susceptibility at Integrated Circuit Level

 Alexandre Boyer , Nicolas Nolhier , Fabrice Caignet , Sonia Ben Dhia
International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2022), Sep 2022, Goteborg, Sweden. ⟨10.1109/EMCEurope51680.2022.9900970⟩
Communication dans un congrès hal-03773209v1

Méthodologies de protection ESD : du composant au système

 Marise Bafleur , Fabrice Caignet , Nicolas Nolhier
ISTE Editions. 280p., 2018, 9781784053260
Ouvrages hal-01702094v1
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LIN communication behaviours against ESD events

 Fabien Escudié , Fabrice Caignet , Nicolas Nolhier
2017 International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC EUROPE), Sep 2017, Angers, France. ⟨10.1109/EMCEurope.2017.8094675⟩
Communication dans un congrès hal-01698505v1
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Voiture autonome : le défi du zéro défaut pour la fiabilité des systèmes électroniques embarqués

 Marise Bafleur , Fabrice Caignet , Nicolas Nolhier
Transports du futur: Regards croisés de chercheur.e.s, 37, pp.20, 2018, Collection Petit illustré
Chapitre d'ouvrage hal-01980187v1

The challenge of signal integrity in deep-submicrometer CMOS technology

 Fabrice Caignet , Sonia Ben Dhia , Etienne Sicard
Proceedings of the IEEE, 2001, 89 (4), pp.556-573. ⟨10.1109/5.920583⟩
Article dans une revue hal-02523701v1
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Protecting Mixed-­Signal Technologies Against Electrostatic Discharges: Challenges and Protection Strategies from Component to System

 Marise Bafleur , Fabrice Caignet , Nicolas Nolhier , Patrice Besse , Jean-­‐philippe Lainé
Thomas NOULIS. Mixed-signal circuits, CRC PRESS, 40p. Chapter 3, 2015, Devices, Circuits, and Systems Series, 9781482260625
Chapitre d'ouvrage hal-01218627v1

Formations à distance en EEA : Le projet de Master première année M1 e-EEA

 C. Chambrelan , N. Gervais , R. Grisel , R. Horn , Yves Danto , et al.
5ème Colloque sur l'Enseignement des Technologies et des Sciences de l'Information et des Systèmes, 2005, France. pp.1
Communication dans un congrès hal-00183071v1
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Prediction of LIN communication robustness against EFT events using dedicated failure models

 Fabien Escudié , Fabrice Caignet , Nicolas Nolhier , Marise Bafleur
Microelectronics Reliability, 2017, 76-77, pp.685 - 691. ⟨10.1016/j.microrel.2017.07.032⟩
Article dans une revue hal-01698397v1
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Présentation d'un travail normatif de modélisation de système pour la prédiction de défaillance ESD

 Fabien Escudié , Fabrice Caignet , Nicolas Nolhier , Marise Bafleur
18 ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2016) , Jul 2016, Rennes, France. 6p
Communication dans un congrès hal-01698420v1
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New Measurement Method to Investigated Service Life of Protection Networks exposed to ESD

 François Ruffat , Fabrice Caignet , Alexandre Boyer , Fabien Escudié , Guillaume Mejecaze , et al.
33rd European Symposium on Reliability of Electron Devices Failure Physics and Analysis (ESREF2022), Sep 2022, Berlin, Germany. ⟨10.1016/j.microrel.2022.114661⟩
Communication dans un congrès hal-03788168v1
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TLP-based Human Metal Model stress generator and analysis method of ESD generators

 Rémi Bèges , Fabrice Caignet , Patrice Besse , Jean-Philippe Laine , Alain Salles , et al.
Electrical Overstress / Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD 2015), Sep 2015, Reno, United States. ⟨10.1109/EOSESD.2015.7314777⟩
Communication dans un congrès hal-01239451v1
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Modélisation de système pour la prédiction de défaillances dues aux décharges électrostatiques

 Fabien Escudié , Fabrice Caignet , Nicolas Nolhier
Journées Nationales du Réseau Doctoral en Micro-nanoélectronique (JNRDM 2016), May 2016, Toulouse, France. 5p
Communication dans un congrès hal-01698411v1
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Novel 3D back-to-back diodes ESD protection

 Bertrand Courivaud , Nicolas Nolhier , G. Ferru , Marise Bafleur , Fabrice Caignet
International ESD Workshop (IEW) , May 2014, Villard de Lans, France. 2p
Communication dans un congrès hal-01843394v1
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Reliability of ESD protection devices designed in a 3D technology

 Bertrand Courivaud , Nicolas Nolhier , G Ferru , Marise Bafleur , Fabrice Caignet
Microelectronics Reliability, 2014, Microelectronics Reliability, 54 (9), pp.2272-2277. ⟨10.1016/j.microrel.2014.07.136⟩
Article dans une revue hal-01218702v1
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Behavioral-Modeling Methodology to Predict Electrostatic-Discharge Susceptibility Failures at System Level : an IBIS Improvement

 Nicolas Monnereau , Fabrice Caignet , Nicolas Nolhier , David Trémouilles , Marise Bafleur
Int. Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC Europe 2011), Sep 2011, YORK, United Kingdom. pp.457-463
Communication dans un congrès hal-00722643v1
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MÉTHODE D'EXTRACTION RAPIDE ET EFFICACE D'UN MODÈLE DE PROTECTION ESD FACE À DES PHÉNOMÈNES TRANSITOIRES RAPIDES

 François Ruffat , Fabrice Caignet , Alexandre Boyer , Guillaume Mejecaze , Fabien Escudie , et al.
21ème Colloque International et Exposition sur la Compatibilité ÉlectroMagnétique (CEM 2023), Jun 2023, Toulouse, France
Communication dans un congrès hal-04203263v1
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A Pre-Scan Method to Accelerate Near-Field Scan Immunity Tests

 Alexandre Boyer , Fabrice Caignet
IEEE Letters on Electromagnetic Compatibility Practice and Applications, In press, pp.1-1. ⟨10.1109/LEMCPA.2024.3363113⟩
Article dans une revue hal-04445606v1
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Oscilloscope intégré sur puce appliqué à la caractérisation d'un générateur d'impulsions à 20 GHz

 Thomas Epert , Fabrice Caignet , Christophe Viallon , Anqing Wang , Nicolas Mauran , et al.
18èmes Journées Nationales Microondes, May 2013, Paris, France. pp.4
Communication dans un congrès hal-00924176v1
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Multisource and Battery-free Energy Harvesting Architecture for Aeronautics Applications

 Claude Vanhecke , Laurent Assouère , Anqing Wang , Paul Durand-Estèbe , Fabrice Caignet , et al.
IEEE Transactions on Power Electronics, 2015, 30 (6), pp.3215-3227. ⟨10.1109/TPEL.2014.2331365⟩
Article dans une revue hal-01020992v2
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On-chip measurement to analyze failure mechanisms of ICs under system level ESD stress

 Fabrice Caignet , Nicolas Nolhier , Marise Bafleur , Anqing Wang , Nicolas Mauran
Microelectronics Reliability, 2013, 53 (9-11), pp.1278-1283. ⟨10.1016/j.microrel.2013.07.056⟩
Article dans une revue hal-00941840v1
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Practical Transient System-level ESD Modeling - Environment Contribution

 Marise Bafleur , Rémi Bèges , Fabrice Caignet , André Durier , Christian Marot , et al.
Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD), Sep 2014, Tucson, AZ, United States. 10p
Communication dans un congrès hal-01843080v1
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Frequency Based Method Investigation to Extract an ESD Protection Dynamic SPICE Model from TLP Measurements

 Fabien Escudié , Fabrice Caignet , Nicolas Nolhier , Alexandre Boyer
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64 (1), pp.47 - 57. ⟨10.1109/TEMC.2021.3106770⟩
Article dans une revue hal-03408285v1
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On the Correlation between Near-Field Scan Immunity and Radiated Immunity at Printed Circuit Board Level – Part II

 Alexandre Boyer , Nicolas Nolhier , Fabrice Caignet , Sonia Ben Dhia
IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility, 2022, 64 (5), pp.1493 - 1505. ⟨10.1109/TEMC.2022.3172601⟩
Article dans une revue hal-03681022v1
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