Etienne Talbot
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Identifiants chercheurs
- etienne-talbot
- 0000-0001-6389-1670
- IdRef : 124080154
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Effect of Germanium content and strain on the formation of extended defects in ion implanted Silicon/GermaniumThin Solid Films, 2010, 518 (9), pp.2338 - 2341. ⟨10.1016/j.tsf.2009.09.172⟩
Article dans une revue
hal-01633467v1
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