Electrostatic force microscopy of individuallt charged silicon nanoparticles
Thierry Melin
,
Heinrich Diesinger
,
D. Deresmes
,
T. Baron.
,
Sophie Barbet
,
et al.
MRS Boston Symposium F , Nov 2004, Boston, United States
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Elaboration de nanofils de silicium sur pointes de tungstène pour caractérisation en sonde atomique et microscopie champ proche
T. Xu
,
B. Grandidier
,
J.P. Nys
,
D. Stiévenard
,
E. Cadel
,
et al.
1ères Journées Nanosciences Nord-Ouest, J2NO 2008 , 2008, Poitiers, France
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Evidence of electron-phonon interaction on transport in n- and p-type silicon nanowires
Francois Vaurette
,
R. Leturcq
,
J.P. Nys
,
D. Deresmes
,
B. Grandidier
,
et al.
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Boron distribution in the core of Si nanowire grown by chemical vapor deposition
W. Chen
,
V.G. Dubrovskii
,
X.L. Liu
,
T. Xu
,
Rodrigue Lardé
,
et al.
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Molecular interactions of PTCDA on Si(100)
T. Soubiron
,
Francois Vaurette
,
J.P. Nys
,
B. Grandidier
,
X. Wallart
,
et al.
Surface Science : A Journal Devoted to the Physics and Chemistry of Interfaces , 2005, 581, pp.178-188
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Réactivation par injection électronique des donneurs Si dans le GaAs hydrogéné ou deutéré
S. Silvestre
,
L. Kurowski
,
D. Bernard-Loridant
,
E. Constant
,
B. Grandidier
,
et al.
8èmes Journées Nationales Microélectronique et Optoélectronique, JNMO 2001 , 2001, Aussois, France
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Atomic-scale observation of dopant atoms in GaAs
G. Mahieu
,
D. Deresmes
,
B. Grandidier
,
J.P. Nys
,
D. Stievenard
PICO : The Omicron NanoTechnology Newsletter , 2004, 8, pp.6-7
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Transport limitations and Schottky barrier height in titanium silicide nanowires grown on the Si(111) surface
T. Soubiron
,
R. Stiufiuc
,
L. Patout
,
D. Deresmes
,
B. Grandidier
,
et al.
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Etude par EFM de la charge/décharge d'îlots semiconducteurs de taille nanométrique
Thierry Melin
,
D. Deresmes
,
D. Stievenard
Journées d'utilisateurs nanoscope , 2001, Dijon, France
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Fundamental studies in nanosciences at the Institute of Electronics, Microelectronics, and Nanotechnology (IEMN)
Guy Allan
,
Sophie Barbet
,
Yannick Coffinier
,
Christophe Delerue
,
D. Deresmes
,
et al.
International Journal of Nanotechnology , 2008, 5, 631-648, Special Issue on Nanotechnology in France. Part I : C'nano Nord-Ouest.
⟨10.1504/IJNT.2008.018686⟩
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Silicon surface nano-oxidation using scanning probe microscopy
D. Stievenard
,
Bernard Legrand
Progress in Surface Science , 2006, 81, pp.112-140
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Electric force microscopy of individually charged silicon nanoparticles
Thierry Melin
,
Heinrich Diesinger
,
Sophie Barbet
,
D. Deresmes
,
T. Baron.
,
et al.
Materials Research Society 2005 Fall Meeting , Nov 2005, Boston, MA, United States
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CAPTURE CROSS-SECTIONS OF DEEP LEVELS IN SUPERLATTICES
D. Stievenard
,
Dominique Vuillaume
,
S. Feng
,
J. Bourgoin
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Synthesis of Si-based nanowires by solid-liquid phase growth
T. Xu
,
Yannick Coffinier
,
J.P. Nys
,
G. Patriarche
,
B. Grandidier
,
et al.
GDR Nanofils , 2006, Villeneuve d'Ascq, France
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Structures atomiques des facettes sur les nanofils de silicium
T. Xu
,
J.P. Nys
,
A. Addad
,
O.I. Lebedev
,
A. Urbieta
,
et al.
11ème Colloque de la Société Française des Microscopies , 2009, Paris, France
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Effect of alkyl substituents on the adsorption of thienylenevinylene oligomers on the Si(100) surface
B. Grandidier
,
J.P. Nys
,
D. Stievenard
,
Christophe Krzeminski
,
C. Delerue
,
et al.
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(6 x 2) Reconstruction of the Ag/Si(111) surface at 77 K (vol 603, pg 311, 2009) - Corrigendum
A. Urbieta
,
K. Schulte
,
B. Grandidier
,
D. Deresmes
,
S.C. Erwin
,
et al.
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Electrical detection of human immunoglobulins G from human serum using a microbiosensor
L. Marcon
,
D. Stievenard
,
O. Melnyk
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Probing the carrier capture rate of a single quantum level
Maxime Berthe
,
R. Stiufiuc
,
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,
D. Deresmes
,
C. Delerue
,
et al.
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Gibbs-Thomson and diffusion-induced contributions to the growth rate of Si, InP, and GaAs nanowires
V.G. Dubrovskii
,
N.V. Sibirev
,
G.E. Cirlin
,
I.P. Soshnikov
,
W.H. Chen
,
et al.
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Reversible defect engineering of single-walled carbon nanotubes using scanning tunneling microscopy
Maxime Berthe
,
S. Yoshida
,
Y. Ebine
,
K. Kanazawa
,
A. Okada
,
et al.
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La spectroscopie STM : application à l'étude de molécules organiques sur silicium ou de défauts ponctuels dans les semi-conducteurs
D. Stievenard
Journée Surfaces et Interfaces, JSI 2000 , 2000, Paris, France
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Low-cost sol-gel synthesis of Al-doped ZnO films : influence of operating parameters
Di Zhou
,
A. Boé
,
Yannick Lambert
,
D. Stievenard
,
O. Cristini-Robbe
,
et al.
European Materials Research Society Spring Meeting, E-MRS Spring 2013, Symposium O - Synthesis, processing and characterization of nanoscale multi functional oxide films IV , May 2013, Strasbourg, France
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Electric force microscopy of individually charged semiconductor nanoparticles on conductive substrates : an analytical model for quantitative charge imaging
Thierry Melin
,
H. Diesinger
,
D. Deresmes
,
D. Stievenard
Physical Review B: Condensed Matter and Materials Physics (1998-2015) , 2004, 69, pp.035321/1-8
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Coulomb energy determination of a single Si dangling bond
T.H. Nguyen
,
G. Mahieu
,
Maxime Berthe
,
B. Grandidier
,
C. Delerue
,
et al.
Workshop on Statistical Physics and Low Dimensional Systems, SPLDS 2011 , 2011, Nancy, France
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Nanofils de Si et sonde atomique tomographique
J. Houard
,
R. Lardé
,
E. Cadel
,
P. Pareige
,
D. Hourlier
,
et al.
Journées du GDR Nanofils Nanotubes Semiconducteurs , 2006, Villeneuve d'Ascq, France
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Dispositif miniature de détection électrique d'interactions de type ligand-récepteur, préparation et utilisations
D. Stievenard
,
O. Melnyk
,
V. Haguet
,
C. Olivier
,
O. El Mahdi
,
et al.
N° de brevet: FR2847983 (A1). 2004
Brevet
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Scanning tunneling microscopy based lithography in UHV
J.P. Nys
,
Thierry Melin
,
B. Grandidier
,
D. Stievenard
5th MEL-ARI/NID Workshop , 2000, Pise, Italy
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Electric force microscopy of individually charged semiconductor nanoparticles
Thierry Melin
,
H. Diesinger
,
D. Deresmes
,
D. Stievenard
Materials Research Society Fall Meeting , 2003, Boston, MA, United States
Communication dans un congrès
hal-00146615v1
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Etude des mécanismes de la croissance et du dopage de nanofils de silicium
W. M. Chen
,
P. Pareige
,
E. Cadel
,
R. Larde
,
T. Xu
,
et al.
1ères Journées Nanosciences Nord-Ouest, J2NO 2008 , 2008, Poitiers, France
Communication dans un congrès
hal-00361981v1
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