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Denis Mencaraglia

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"florent-loete"

	Novel Wideband Eddy Current Device for the Conductivity Measurement of Semiconductors Florent Loete , Yann Le Bihan , Denis Mencaraglia IEEE Sensors Journal, 2016, 16 (11), pp.4151-4152. ⟨10.1109/JSEN.2016.2544403⟩ Article dans une revue hal-01465306v1

	Contactless Investigation of the p-Type Doping Concentration Level of Single Micrometric Size GaAs Crystals Grown on Silicon for Multijunction Solar Cells Alexandre Jaffré , José Alvarez , Hung-Ling Chen , Hajer Makhloufi , Charles Renard 35th European Photovoltaic Solar Energy Conference and Exhibition (EU-PVSEC), EU PVSEC, Sep 2018, Bruxelles, Belgium. pp.660 - 664, ⟨10.4229/35thEUPVSEC20182018-2AV.3.17⟩ Communication dans un congrès hal-01936835v1
	Contactless conductivity measurement for ITO nanolayers on AsGa substrats over a wide frequency range Florent Loete , Hajer Makhloufi , Yann Le Bihan , Denis Mencaraglia IEEE SENSORS 2018, Oct 2018, New delhi, India. ⟨10.1109/icsens.2018.8589554⟩ Communication dans un congrès hal-01943876v1
	Model-Based Eddy Current Determination of the Electrical Conductivity of Semiconductors Yann Le Bihan , Florent Loete , Josué Ferreira , Denis Mencaraglia 2016 IEEE Conference on Electromagnetic Field Computation (CEFC), Nov 2016, Miami, United States. ⟨10.1109/cefc.2016.7816375⟩ Communication dans un congrès hal-01460536v1
	Contactless device for the fast conductivity characterization of a large range semiconductors Florent Loëte , Yann Le Bihan , Denis Mencaraglia International Symposium on Semiconductor Manufacturing (ISSM 2016), Dec 2016, Tokyo, Japan. 4p., ⟨10.1109/issm.2016.7934522⟩ Communication dans un congrès hal-01637727v1

	Analyse par photoluminescence du dopage résiduel dans un cristal unique de GaAs de taille micrométrique épitaxié sur silicium pour la réalisation de multijonctions Alexandre Jaffré , J Alvarez , Hung-Ling Chen , Hajer Makhloufi , Charles Renard Journées Nationales du Photovoltaïque 2018 (JNPV 2018), Dec 2018, Dourdan, France Poster de conférence hal-01942352v1
	Tunable Eddy Current Device for the Contactless Characterization of a Large Variety of Semiconductor Materials Florent Loete , Yann Le Bihan , Denis Mencaraglia 2015 IEEE SENSORS, Nov 2015, Busan, South Korea. ⟨10.1109/ICSENS.2015.7370427⟩ Poster de conférence hal-01246248v1

	Contactless measurement of the conductivity of semiconductors using a multicarrier frequency test signal Denis Mencaraglia , Yann Le Bihan , Florent Loete United States, Patent n° : 10429435. 2019 Brevet hal-02936877v1
	Contactless measurement of the conductivity of semiconductors using a multicarrier frequency test signal Denis Mencaraglia , Yann Le Bihan , Florent Loete États-Unis, N° de brevet: US20180100887. 2018 Brevet hal-04558180v1
	MESURE SANS CONTACT DE LA CONDUCTIVITÉ DE SEMI-CONDUCTEURS Denis Mencaraglia , Yann Le Bihan , Florent Loete France, N° de brevet: EP3283891. 2018 Brevet hal-04558189v1
	Mesure sans contact de la conductivité de semiconducteurs Florent Loete , Yann Le Bihan , Denis Mencaraglia France, N° de brevet: FR 1553392. 2015 Brevet hal-01246254v1