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Caractérisation et modélisation non linéaire de transistors hyperfréquences à effet de champ à base de nanotubes de carbone (CNFETs) à l'aide d'un analyseur de réseau large signal (LSNA)
Arnaud Curutchet
,
Jean-Marc Bethoux
,
Matthieu Werquin
,
Henri Happy
,
Didier Theron
,
et al.
15èmes Journées Nationales Microondes, JNM 2007, May 2007, Toulouse, France. pp.3C4-1-4
Communication dans un congrès
hal-00370334v1
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Etude de l'effet de la topologie sur l'ionisation par impact à l'aide de mesures d'électroluminescence
Christophe Gaquière
,
B. Boudart
,
P.A. Dhamelincourt
8èmes Journées Nationales Microélectronique et Optoélectronique, JNMO 2001, 2001, Aussois, France
Communication dans un congrès
hal-00152675v1
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Monte Carlo analysis of thermal effects in self-switching diodes
J.F. Millithaler
,
I. Iniguez-De-La-Torre
,
T. Gonzalez
,
J. Mateos
,
P. Sangare
,
et al.
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Large signal and pulse instabilities in GaN HFETs
Erhard Kohn
,
E Strobel
,
I. Daumiller
,
Christophe Gaquière
,
B. Boudart
,
et al.
1st Gallium Nitride Electronic Device Workshop, 1999, Cornell, United States
Communication dans un congrès
hal-01654323v1
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Device and method for mixing electromagnetic waves with frequencies up to the THz range
Luca Varani
,
Philippe Nouvel
,
Alexandre Penot
,
Javier Mateos
,
Jan Vilhelm Grahn
,
et al.
France, Patent n° : EP2731263 (A1). Brevet [#620]. 2014
Brevet
hal-00998981v1
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Characterisation of LT GaAs FET’s as a function of the temperature
Didier Theron
,
B. Boudart
,
Christophe Gaquière
,
Georges Salmer
,
M. Lipka
,
et al.
IEEE Workshop Experimentally based FET device modelling & Related nonlinear circuit design, 1997, Kassel, Germany
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Surface capping of AlInN/GaN HEMT structures
F Medjdoub
,
D. Ducatteau
,
Christophe Gaquière
,
J.-F Carlin
,
M Gonschorek
,
et al.
European Workshop on III-Nitride Semiconductor Materials and Devices, Sep 2006, Heraklion, Greece
Communication dans un congrès
hal-03281380v1
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Développement d'un banc de caractérisation non linéaire dans le domaine fréquentiel pour la caractérisation et la modélisation de transistors de puissance
R. Ouhachi
,
A. Pottrain
,
T. Lacave
,
D. Ducatteau
,
P. Chevalier
,
et al.
17èmes Journées Nationales Micro-ondes, JNM 2011, 2011, Brest, France. papier 118, 2F6, 1-4
Communication dans un congrès
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SubfemtoFarad MOS varactor characterization tools
R. Debroucke
,
J. Larchanche
,
D. Theron
,
D. Ducatteau
,
H. Tanbakuchi
,
et al.
40th European Microwave Conference, EuMC 2010, 2010, France. pp.783-786
Communication dans un congrès
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Thermal response for intermodulation distortion components of GaN HEMT for low and high frequency applications
Mohammad A. Alim
,
Mayahsa M. Ali
,
Ali A. Rezazadeh
,
Christophe Gaquière
Article dans une revue
hal-03143596v1
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Characterization on AlGaN/GaN/Si HEMTs devices passivated with SiN/SiO2
H. Mosbahi
,
M. Gassoumi
,
M.A. Zaidi
,
Vanessa Avramovic
,
Christophe Gaquière
,
et al.
36th Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits, WOCSDICE 2012, 2012, Porquerolles, France. pp.1-2
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hal-00801155v1
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State of the art 200 GHz power measurements on SiGe:C HBT using an innovative load pull measurement setup
A. Pottrain
,
T. Lacave
,
D. Gloria
,
P. Chevalier
,
Christophe Gaquière
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GaAlN/GaN HEMT heterostructures grown on ‘SiCopSiC' composite substrates for HEMT application
M.A. Di Forte-Poisson
,
N. Sarazin
,
M. Magis
,
M. Tordjman
,
J. Di Persio
,
et al.
14th International Conference of Metalorganic Vapor Phase Epitaxy, ICMOVPE-XIV, 2008, Metz, France
Communication dans un congrès
hal-00362031v1
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AlGaN/GaN HEMTs : technology and microwave performances
Jean-Claude de Jaeger
,
N. Caillas
,
E. Chartier
,
Gilles Dambrine
,
S. Delage
,
et al.
RF & Hyper Europe 2004, 2004, Paris, France
Communication dans un congrès
hal-00141961v1
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Electronic properties of deep defects in n-type GaN
P. Muret
,
C. Ulzhöfer
,
J. Pernot
,
Y. Cordier
,
F. Semond
,
et al.
Superlattices and Microstructures, 2004, 36, pp.435-443
Article dans une revue
hal-00141959v1
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Current conduction and saturation mechanism in AlGaN/GaN ungated structures
J. Kuzmik
,
S. Bychikhin
,
D. Pogany
,
Christophe Gaquière
,
E. Morvan
Article dans une revue
hal-00154930v1
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Plasma excitations in field effect transistors for terahertz detection and emission
W. Knap
,
D. Coquillat
,
N. Dyakonova
,
F. Teppe
,
O. Klimenko
,
et al.
Article dans une revue
hal-00549459v1
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Power results at 4 GHz of AlGaN/GaN HEMTs on high resistive silicon (111) substrate
N. Vellas
,
Christophe Gaquière
,
A. Minko
,
Virginie Hoel
,
Jean-Claude de Jaeger
,
et al.
IEEE Microwave and Wireless Components Letters, 2003, 13, pp.255-257
Article dans une revue
hal-00146662v1
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Geometry optimization for sub-THz Gunn emission : a V-shape GaN nanodevice
I. Iniguez-De-La-Torre
,
J.F. Millithaler
,
A. Iniguez-De-La-Torre
,
J. Mateos
,
P. Sangare
,
et al.
18th International Conference on Electron Dynamics in Semiconductors, Optoelectronics and Nanostructures, EDISON18, 2013, Matsue, Japan
Communication dans un congrès
hal-00823433v1
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RF noise and power performances of AlGaN/GaN on Si(111) substrates
A. Minko
,
Virginie Hoel
,
Gilles Dambrine
,
Christophe Gaquière
,
Jean-Claude de Jaeger
,
et al.
2004, pp.67-70
Communication dans un congrès
hal-00142303v1
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Improvement of conductivity and breakdown characteristics of AlGaN/GaN HEMT structures in passivation experiments
S. Shapoval
,
V. Gurtovoi
,
A. Kovalchuk
,
L. Eastman
,
A. Vertjachih
,
et al.
2003, pp.90-93
Communication dans un congrès
hal-00149939v1
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Accuracy measurements of an original active loadpull based on large signal network analyzer
D. Ducatteau
,
M. Werquin
,
E. Delos
,
E. Morvan
,
D. Theron
,
et al.
Proceedings of the 2007 European Microwave Week, 2007, Munich, Germany
Communication dans un congrès
hal-00367699v1
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Spatial mapping of electroluminescence due to impact ionization effect in high electron mobility transistors
Christophe Gaquière
,
B. Boudart
,
P.A. Dhamlincourt
Applied Spectroscopy, 2000, 54, pp.1423-1428
Article dans une revue
hal-00158981v1
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Characterization of the self-heating of AlGaN/GaN HEMTs during an electrical stress by using Raman spectroscopy
F. Berthet
,
Y. Guhel
,
H. Gualous
,
B. Boudart
,
J.L. Trolet
,
et al.
Article dans une revue
istex
hal-01646870v1
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High power and linearity performances of gallium nitride HEMT devices on sapphire substrate
M. Werquin
,
Christophe Gaquière
,
Y. Guhel
,
N. Vellas
,
D. Theron
,
et al.
Article dans une revue
hal-01646906v1
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Amélioration des performances électriques en régime statique et hyperfréquence de transistors HEMTs pseudomorphiques de la filière GaAs en utilisant des rayonnements ionisants
F. Berthet
,
Y. Guhel
,
H. Galous
,
B. Boudart
,
J.L. Trolet
,
et al.
17èmes Journées Nationales Micro-ondes, JNM 2011, 2011, Brest, France. pp.6E9, 1-4
Communication dans un congrès
hal-00603138v1
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Caractérisation et analyse des effets de pièges électriques sur la fiabilité de HEMTS AlGaN/GaN
F. Berthet
,
Y. Guhel
,
H. Galous
,
B. Boudart
,
J.L. Trolet
,
et al.
17èmes Journées Nationales Micro-ondes, JNM 2011, 2011, Brest, France. pp.4C3, 1-4
Communication dans un congrès
hal-00603136v1
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Tunable room temperature THz emission from AlGaN/GaN high electron mobility transistors
Nina Diakonova
,
A. El Fatimy
,
Y. Meziani
,
T. Otsuji
,
Dominique Coquillat
,
et al.
35th International Conference on Infrared, Millimeter and Terahertz Waves, Sep 2010, Rome, Italy. pp.1
Communication dans un congrès
hal-00636136v1
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Impact of BEOL stress on BiCMOS9MW HBTs
Elodie Canderle
,
P. Chevalier
,
G. Avenier
,
N. Derrier
,
D. Céli
,
et al.
27th IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting, BCTM 2013, 2013, Bordeaux, France. session 13 : Advanced SiGe BiCMOS Processes, paper 13.1, 223-226, ⟨10.1109/BCTM.2013.6798181⟩
Communication dans un congrès
hal-00996056v1
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160W InAlN/GaN HEMTs amplifier at 2 GHz with optimized thermal management
Stéphane Piotrowicz
,
Olivier Jardel
,
Jean-Claude Jacquet
,
D. Lancereau
,
Raphaël Aubry
,
et al.
34th IEEE Compound Semiconductor Integrated Circuit Symposium, CSICS 2012, Oct 2012, La Jolla, CA, United States. pp.1-4, ⟨10.1109/CSICS.2012.6340059⟩
Communication dans un congrès
hal-00801142v1
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