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Power grid redundant path contribution in system on chip (SoC) robustness against electromigrationMicroelectronics Reliability, 2014, 54 (9-10), pp.1702--1706. ⟨10.1016/j.microrel.2014.07.016⟩
Article dans une revue
hal-01372616v1
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Redundancy Method to assess Electromigration Lifetime in power grid designIEEE International Interconnect Technology Conference (IITC),, Jun 2013, Kyoto, Japan. pp.81-83, ⟨10.1109/IITC.2013.6615570⟩
Communication dans un congrès
hal-00915971v1
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