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		Optical Feedback Interferometry for Raster Scan Profilometry Bastien Grimaldi , Antonio Luna Arriaga , Francis Bony , Clément Tronche , Julien Perchoux IEEE Sensors 2017, Oct 2017, Glasgow, United Kingdom. 3p Communication dans un congrès hal-01685167v1	Envoyer sur ORCID Exporter BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite Export avancé Partager Gmail Facebook X LinkedIn More

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