Arnaud Virazel
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Affiliations actuelles
- 1100642
Identifiants chercheurs
arnaud-virazel- IdRef : 068454724
- ISNI : 0000000139422532
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0000-0001-7398-7107
Présentation
Enseignant-chercheur au **LIRMM** dans l’équipe de recherche **TEST**: Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems.
<https://www.lirmm.fr/recherche/equipes/test>
**Cours** :
<http://www.lirmm.fr/~virazel/COURS/index.php?dir=L1%20-%20HLEE202/Cours/>
**Researchgate** :
[https://www.researchgate.net/profile/Arnaud\_Virazel](https://www.researchgate.net/profile/Arnaud_Virazel)
Publications
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Hardware Generation of Random Single Input Change Test SequenceJournal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2002, 18 (2), pp.145-157. ⟨10.1023/A:1014941525735⟩
Article dans une revue
lirmm-00268540v1
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Delay Fault Testing: Choosing Between Random SIC and Random MIC Test SequencesJournal of Electronic Testing: : Theory and Applications, 2001, 17 (3/4), pp.233-241. ⟨10.1023/A:1012259227622⟩
Article dans une revue
lirmm-00345796v1
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On Using Efficient Test Sequences for BISTVTS: VLSI Test Symposium, 2002, Monterey, CA, United States. pp.145-150
Communication dans un congrès
lirmm-00268499v1
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On Hardware Generation of Random Single Input Change TestETW: European Test Workshop, May 2001, Saltsjöbaden, Sweden. pp.117-123
Communication dans un congrès
lirmm-00345801v1
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Test Intégré de Circuits Digitaux : Comparaison de deux types de Séquences de TestJournées des Doctorants, École Doctorale I2S, 2001, Montpellier, France. pp.158-160
Communication dans un congrès
lirmm-00345806v1
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Test Intégré de Circuits Digitaux : Etude Comparative de l'Efficacité de deux types de Séquences de TestJNRDM: Journées Nationales du Réseau Doctoral de Microélectronique, LIRMM; CEM2, May 2000, Montpellier, France. pp.86-87
Communication dans un congrès
lirmm-00345804v1
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Delay Fault Testing: Choosing Between Random SIC and Random MIC Test SequencesETW: European Test Workshop, May 2000, Cascais, Portugal. pp.09-14, ⟨10.1109/ETW.2000.873772⟩
Communication dans un congrès
lirmm-00345799v1
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Random Adjacent Sequences: An Efficient Solution for Logic BISTSOC Design Methodologies, 90, Kluwer, pp.413-424, 2002, IFIP — The International Federation for Information Processing, 978-1-4757-6530-4. ⟨10.1007/978-0-387-35597-9_35⟩
Chapitre d'ouvrage
lirmm-00345802v1
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